TestEQ EQ-PCTシリーズは、HAST（Highly Accelerated Stress Test）とPCT（Pressure Cooker Test）を1台の加圧チャンバーで実現します。制御された温度・湿度・圧力を印加することで、非気密封止型の電子部品や半導体パッケージにおける湿気関連の故障メカニズムを加速させ、通常85 °C / 85 % RHで数週間を要する認定試験を、はるかに短い試験期間で実施できます。
用途
- 半導体パッケージおよびIC
- 非気密封止型の電子部品およびデバイス
- PCBアセンブリおよび相互接続部
- 車載エレクトロニクスおよびLEDデバイス
- 信頼性認定および故障解析ラボ
構成と特長
- 蒸気温度範囲 +110 °C～+135 °C。
- 湿度：100 % RH飽和蒸気、または蒸気湿度調整により70 %～100 % RH。
- 水蒸気の自然対流循環。
- 圧力範囲 0～+2 kg/cm²、使用範囲 0～+3 kg/cm²。
- 試験時間は0～999時間でプログラム可能。
- 無負荷条件で0.00 → 2.00 kg/cm²への加圧を約30分で実施。
- 槽内空気温度は常温 → 132 °Cを約30分で昇温。
- 自動または手動补水と自動減圧を備えたデュアルモード水管理。
- 低水位遮断保護および過圧インターロック。
- 電気的負荷、カスタム治具、圧力制御、データ監視に対応したバイアス印加または非印加のHAST構成。
仕様
機種ラインナップ
| 項目 | EQ-PCT-18 | EQ-PCT-48 | EQ-PCT-88 | EQ-PCT-199 |
|---|---|---|---|---|
| 内容量（m³） | 0.018 | 0.048 | 0.088 | 0.199 |
| 内寸 Ø×D（mm） | Ø300×250 | Ø450×300 | Ø500×450 | Ø650×600 |
| 外形寸法 W×H×D（mm） | 500×500×700 | 580×850×650 | 800×750×900 | 950×900×1100 |
共通仕様
| 項目 | 値 |
|---|---|
| 蒸気温度範囲 | +110 °C～+135 °C |
| 温度変動 | ≤ ±0.5 °C |
| 温度均一性 | ≤ 1.5 °C |
| 湿度範囲 | 100 % RH飽和蒸気；70 %～100 % RH 蒸気湿度調整可能 |
| 湿度均一性 | ±1.5 % RH；±3.0 % RH |
| 圧力範囲 | 0～+2 kg/cm²（使用範囲 0～+3 kg/cm²） |
| 絶対圧力範囲 | 1.0～3.0 kg/cm² |
| 安全耐圧 | 4 kg/cm²（1気圧 + 3 kg/cm² ゲージ圧） |
| 循環方式 | 水蒸気の自然対流 |
| 試験時間設定 | 0～999時間、プログラム可能 |
| 加圧時間 | 0.00 → 2.00 kg/cm²を約30分（無負荷） |
| 温度昇温 | 常温 → 132 °Cを約30分（槽内空気温度） |
| 電源 | AC 220 V、単相3線、50/60 Hz；AC 380 V、三相5線、50/60 Hz |
実際の試験条件は、適用規格、製品の認定要件、試料構成に応じて設定します。チャンバー容量、治具、電気的バイアス、水管理、ラボ統合はカスタマイズ可能です。
規格
本試験槽はJESD22-A110、JESD22-A102、IEC 60068-2-66を基準に設計されています。認定プログラムに応じて、AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q200、MIL-STD-202、MIL-STD-750を用いる業務や、顧客固有の要件への統合も可能です。
試料数、試験温度、湿度モード、圧力レベルからHASTまたはPCTの構成を選定するには、試験対象部品と適用試験規格を添えてお問い合わせください 。関連：温湿度試験槽 、熱衝撃試験槽 、ESS試験槽 、高圧試験槽 。