環境試験装置および信頼性試験システム on 環境試験装置メーカー TestEQ

ESS試験装置 — 環境ストレススクリーニング

Mon, 01 Jan 0001 00:00:00 +0000

TestEQのESS試験装置は、出荷前に潜在的な製造欠陥を顕在化させるため、量産品に対して制御された温度サイクルと急速な温度変化を印加します。環境ストレススクリーニングは、機能試験を補完するもので、全数または規定のサンプルに対して再現性のあるプロファイルでストレスを付与します。温度試験装置のモデルシリーズはETシリーズであり、急速変化ESS仕様にはEATHシリーズを使用します。

用途

潜在的な製造欠陥に対する量産スクリーニング
製造品質管理および初期故障スクリーニング
電子機器、PCB実装基板およびモジュール
車載およびEV電子機器
規定のスクリーニングプロファイルを必要とする部品

構成と特長

温度範囲 -70 °C～+180 °C。
温度変化率 5 °C/min～25 °C/min（オプション）。一般的な変化率は5、10、15、20 °C/minです。
温度変動 ≤ ±0.5 °C、温度偏差 ≤ ±2.0 °C、温度均一度 ≤ 2.0 °C。
風量 198 / 260 / 472 L/Sec（Cold Fusion）、モデルにより異なります。
スクリーニングプログラムに応じて、湿度およびその他の環境ストレスを組み合わせることが可能です。
一般的なスクリーニング範囲：-40 °C～+85 °C、-45 °C～+85 °C（+125 °C）、-55 °C～+85 °C（+125 °C、軍用レベル）。
容量 100 L～12,000 L。
ポンプ給水方式。水タンク容量 25 Lまたは40 L。
特許番号：CN201920954255.X。

仕様

モデルラインナップ（EATHシリーズ）

モデル	EATH225-40	EATH225-70	EATH408-40	EATH408-70	EATH1000-40	EATH1000-70
内容積（m³）	0.245	0.245	0.408	0.408	1.0	1.0
内寸 W×H×D（mm）	700×700×500	700×700×500	700×800×730	700×800×730	1000×1000×1000	1000×1000×1000
外寸 W×H×D（mm）	900×1680×1300	900×1680×1300	900×1780×1500	900×1780×1500	1200×1980×1700	1200×1980×1700
温度範囲	-40～+180 °C	-70～+180 °C	-40～+180 °C	-70～+180 °C	-40～+180 °C	-70～+180 °C
風量	198 L/Sec	198 L/Sec	260 L/Sec	260 L/Sec	472 L/Sec	472 L/Sec
窓 W×H（mm）	300×360	300×360	300×360	300×360	380×520	380×520
騒音加熱時 / 冷却時（dB）	49 / 65	49 / 68	49 / 65	49 / 68	49 / 67	49 / 68

共通仕様

項目	値
温度変動	≤ ±0.5 °C
温度偏差	≤ ±2.0 °C
温度均一度	≤ 2.0 °C
温度変化率	5～25 °C/min（オプション）。一般的な変化率は5、10、15、20 °C/min
温度変化範囲	-40～+85 °C（一般）、-45～+85 °C（+125 °C）、-55～+85 °C（+125 °C、軍用レベル）
湿度範囲（%RH）	10～98 %RH
湿度均一度	±1.0 %RH
相対湿度偏差	≤ +2.0～−3 %RH（>75 %RH）、≤ ±5.0 %RH（≤75 %RH）
給水方式	ポンプ給水
水タンク容量	25 L / 40 L
電源	AC380V、3相5線、50/60 Hz
容量	100～12,000 L
特許番号	CN201920954255.X

湿度表示は湿度仕様の装置に適用されます。昇降温速度の性能は、装置サイズ、試験範囲、供試体の質量、治具の設計および試験条件によって異なります。

HALT / HASS試験槽 — ETH²シリーズ

Mon, 01 Jan 0001 00:00:00 +0000

TestEQ ETH²シリーズHALT / HASS試験槽は、環境試験と多軸振動試験を統合したシステムです。急速な温度変化と多軸反復衝撃振動を組み合わせることで、製品開発段階における故障の発見と量産スクリーニングを加速し、信頼性エンジニアが設計上の弱点の特定、動作限界および破壊限界の決定、複合ストレス下でのロバスト性評価を行うことを支援します。

用途

設計余裕の発見（HALT）および量産スクリーニング（HASS）
電子機器、PCB実装基板および相互接続部
車載およびEV用パワーエレクトロニクス
航空宇宙、防衛および通信機器
潜在欠陥を早期に顕在化させる必要がある部品およびモジュール

構成と特長

容量215～1100 L（カスタマイズ可能）。
温度範囲 -100 °C～+200 °C。
急速温度変化：最大100 °C/min（標準対応30 °C/min～70 °C/minをオプションで選択可能）。
冷却方式：液体窒素（LN₂）。
振動システム：6自由度空気圧反復衝撃。
振動周波数範囲 5～10,000 Hz。
振動加速度 ≥ 100 g（無負荷条件）。
振動範囲 5～100 GRMS、振動オーバーシュート ≤ 2 GRMS。
一致性 ≤ 20 %。
多軸振動は熱システムと統合されており、供試体の機能劣化、間欠故障および構造的弱点を監視できます。
拡張振動範囲は最大70 Grmsまで対応可能。
電源 AC 380 V、3相、5線、50/60 Hz。
特許番号 CN201520670413.0。

仕様

機種ラインナップ（ETH²シリーズ）

パラメータ	ETH²-460	ETH²-610	ETH²-762	ETH²-910	ETH²-1213
容量	1.5 m³	2.0 m³	2.5 m³	3.0 m³	4.0 m³
外形寸法 W×H×D	1570×2030×910 mm	1330×1300×2370 mm	1570×2030×1060 mm	1730×2185×1214 mm	1886×2440×1370 mm
テーブル寸法	460×460 mm	610×610 mm	762×762 mm	910×910 mm	1213×1213 mm
最大積載量	70 kg	90 kg	200 kg	250 kg	317 kg
アクチュエータ	3台	4台	6台	9台	13台
圧縮空気消費量（7 bar時）	400 L/min	400 L/min	990 L/min	1130 L/min	1950 L/min
窓	1枚	1枚	2枚	2枚	2枚
観察窓寸法 W×D	300×300 mm	300×300 mm	300×360 mm	380×480 mm	380×520 mm
扉	1枚	1枚	2枚	2枚	2枚
電力	27 kW	32 kW	48 kW	64 kW	83 kW
電流	50 A	50 A	86 A	150 A	175 A
重量	410 kg	420 kg	860 kg	1133 kg	1814 kg

共通仕様

パラメータ	値
温度範囲	-100 °C～+200 °C
温度変化率	最大100 °C/min（標準オプション30～70 °C/min）
冷却方式	液体窒素（LN₂）
振動システム	6自由度空気圧反復衝撃
振動加速度	≥ 100 g（無負荷条件）
振動周波数範囲	5～10,000 Hz
振動範囲	5～100 GRMS
振動オーバーシュート	≤ 2 GRMS
拡張振動	最大70 Grms
液体窒素消費量	25～60 L/min（液体窒素圧力 2.8～3.5 bar）
一致性	≤ 20 %
振動監視	2チャンネルの振動監視により、製品振動のリアルタイム監視および加速度応答スペクトル解析が可能
電源	AC 380 V、3相、5線、50/60 Hz

機種名にはETH²シリーズ（例：ETH²-460、ETH²-610、ETH²-762、ETH²-910、ETH²-1213）があります。温度ランプレートおよび振動性能は、実際の供試体負荷および治具構成で評価する必要があります。無負荷時の最大仕様は実際の試験性能を表さない場合があります。

HAST / PCT試験槽 — EQ-PCTシリーズ

Mon, 01 Jan 0001 00:00:00 +0000

TestEQ EQ-PCTシリーズは、HAST（Highly Accelerated Stress Test）とPCT（Pressure Cooker Test）を1台の加圧チャンバーで実現します。制御された温度・湿度・圧力を印加することで、非気密封止型の電子部品や半導体パッケージにおける湿気関連の故障メカニズムを加速させ、通常85 °C / 85 % RHで数週間を要する認定試験を、はるかに短い試験期間で実施できます。

用途

半導体パッケージおよびIC
非気密封止型の電子部品およびデバイス
PCBアセンブリおよび相互接続部
車載エレクトロニクスおよびLEDデバイス
信頼性認定および故障解析ラボ

構成と特長

蒸気温度範囲 +110 °C～+135 °C。
湿度：100 % RH飽和蒸気、または蒸気湿度調整により70 %～100 % RH。
水蒸気の自然対流循環。
圧力範囲 0～+2 kg/cm²、使用範囲 0～+3 kg/cm²。
試験時間は0～999時間でプログラム可能。
無負荷条件で0.00 → 2.00 kg/cm²への加圧を約30分で実施。
槽内空気温度は常温 → 132 °Cを約30分で昇温。
自動または手動补水と自動減圧を備えたデュアルモード水管理。
低水位遮断保護および過圧インターロック。
電気的負荷、カスタム治具、圧力制御、データ監視に対応したバイアス印加または非印加のHAST構成。

仕様

機種ラインナップ

項目	EQ-PCT-18	EQ-PCT-48	EQ-PCT-88	EQ-PCT-199
内容量（m³）	0.018	0.048	0.088	0.199
内寸 Ø×D（mm）	Ø300×250	Ø450×300	Ø500×450	Ø650×600
外形寸法 W×H×D（mm）	500×500×700	580×850×650	800×750×900	950×900×1100

共通仕様

項目	値
蒸気温度範囲	+110 °C～+135 °C
温度変動	≤ ±0.5 °C
温度均一性	≤ 1.5 °C
湿度範囲	100 % RH飽和蒸気；70 %～100 % RH 蒸気湿度調整可能
湿度均一性	±1.5 % RH；±3.0 % RH
圧力範囲	0～+2 kg/cm²（使用範囲 0～+3 kg/cm²）
絶対圧力範囲	1.0～3.0 kg/cm²
安全耐圧	4 kg/cm²（1気圧 + 3 kg/cm² ゲージ圧）
循環方式	水蒸気の自然対流
試験時間設定	0～999時間、プログラム可能
加圧時間	0.00 → 2.00 kg/cm²を約30分（無負荷）
温度昇温	常温 → 132 °Cを約30分（槽内空気温度）
電源	AC 220 V、単相3線、50/60 Hz；AC 380 V、三相5線、50/60 Hz

実際の試験条件は、適用規格、製品の認定要件、試料構成に応じて設定します。チャンバー容量、治具、電気的バイアス、水管理、ラボ統合はカスタマイズ可能です。

ウォークイン環境試験室 — EWTHシリーズ

Mon, 01 Jan 0001 00:00:00 +0000

TestEQ EWTHシリーズのウォークイン環境試験室は、大型または重量のある製品やシステムレベルの試験対象物に対応する大きな試験容積を提供します。TestEQはモジュールパネル構造と完全溶接構造のウォークイン室を製作しています。ポリウレタンパネル断熱材は最大85 °Cに制限されるため、より高い温度範囲、より速い温度変化率、または高温高湿条件が必要な場合は完全溶接構造を採用します。

用途

通信、防衛、航空宇宙機器
医薬品、自動車、電子機器業界
EVバッテリーパックおよびエネルギー貯蔵システム
大型組立品およびシステムレベルの製品
試験中に駆動または操作が必要な製品

構成と特長

Type Aの容積は7.8 m³から44.1 m³、Type Bの容積は6.8 m³から38.6 m³です。
低温グレードはAからF：A = +25 °C、B = 0 °C、C = -20 °C、D = -40 °C、E = -60 °C、F = -70 °C。高温は85 °C（オプションで350 °C）。
湿度範囲は20 %から98 % RH（5 %から98 % RHは除湿器を必要とする特殊オプション条件です）。
温度均一性 ≤ ±2.0 °C、温度変動 ≤ ±0.3 °C。
湿度変動 ±3 %RH、湿度偏差は無負荷・定常状態で ≤ ±3 %RH（>75 %RH）、≤ +5 %RH（≤75 %RH）。
受注サイズに対応するモジュール構造。内寸および外寸はカスタマイズ可能です。
試験室は冷凍、加熱、加湿、空気循環、PLC / AI制御を統合しています。
気密扉、安全ロック、観察窓、内部照明、アクセス扉、人員用出入口、搬入出設備など、お客様の要件に合わせて設計できます。
電源 AC380V、3相5線、50/60 Hz。
大型ウォークイン恒温恒湿システムは最大4500 m³までカスタマイズ可能です。

カスタム非標準試験槽

Mon, 01 Jan 0001 00:00:00 +0000

標準試験槽が試験対象物、試験条件、またはラボのレイアウトに適合しない場合、TestEQはお客様の特殊な要件に合わせて非標準試験槽を設計・製造します。カスタムプロジェクトは、固定されたカタログモデルからではなく、必要な試験条件を起点として開発されます。

用途

標準試験槽の寸法や重量を超える試験対象物
複合または特殊な試験条件（温度、湿度、高度、真空、振動）
試験中に動作させる必要があるシステムレベルの試験体
特定のアクセスおよびハンドリング要件を持つ生産ラインまたはラボライン

カスタマイズ可能な項目

試験槽のサイズ、内部寸法、アクセス（扉、ポート、覗き窓）
温度・湿度範囲、温度変化速度
温度、湿度、高度、真空、振動などの複合機能
制御システム、データ記録、通信、モニタリング
必要な負荷と昇降温速度に応じた冷凍および空気循環設計
機械的ハンドリング、治具、お客様設備との統合

開発アプローチ

要件は試験対象物、試験規格、必要な条件から定義されます。
熱、湿度、真空、振動の各システムは構造とともに構成されます。
標準モデルがすでに適合する場合は、カスタム製作ではなく標準モデルまたはウォークインタイプを選定します。

規格

カスタム試験槽は、用途に応じた適用試験規格（GB、GJB、IEC、ASTM、ULなど）を参照して設計されています。TestEQはISO 9001品質マネジメントシステムを運用しています。

カスタムプロジェクトを開始するには、試験対象物の寸法と重量、必要な試験条件、試験規格、アクセスやハンドリングに関する要件を添えてお問い合わせください。関連製品：ウォークイン環境試験槽、熱真空試験槽。

ベンチトップ型環境試験槽

Mon, 01 Jan 0001 00:00:00 +0000

TestEQのベンチトップ型環境試験槽は、小型製品、コンポーネント、材料、組立品を制御された温度・湿度条件に曝すためのコンパクトな試験槽です。実験スペースと試験容積が限られるコンポーネントレベルの試験を目的としています。

用途

コンポーネントの信頼性試験および初期段階の製品検証
電子機器、PCB、センサー、小型組立品
耐湿試験および加速劣化試験
材料のコンディショニングおよび環境耐久性評価
品質管理部門および大学研究機関の試験室

構成と特長

ベンチや狭い作業スペースに適したコンパクトな22.5 Lおよび64 L構成。
温度範囲 -65 °C～+150 °C。
温度変動 ≤ ±0.5 °C、温度偏差 ≤ ±2.0 °C。
湿度範囲 5 %～98 % RH、湿度偏差 ±3.0 % RH（75 % RH超）。
再現性のある試験サイクルを実現するプログラム可能な多段温度・湿度プロファイル。
騒音レベル ≤ 68 dB。
オプションとして、アクセスポート、内扉、データ記録、水精製装置、カスタマイズされた試料固定具、各国仕様の電気構成を用意しています。

仕様

機種ラインナップ（MITHシリーズ）

パラメータ	MITH-270A20	MITH-270A40	MITH-270A60	MITH-640A20	MITH-640A40	MITH-640A60
内容積	0.0225 m³	0.0225 m³	0.0225 m³	0.064 m³	0.064 m³	0.064 m³
内寸幅×高さ×奥行	300×300×250 mm	300×300×250 mm	300×300×250 mm	400×400×400 mm	400×400×400 mm	400×400×400 mm
外寸幅×高さ×奥行	550×850×900 mm	550×850×900 mm	550×850×900 mm	1300×1150×1000 mm	1300×1150×1000 mm	1300×1150×1000 mm
温度範囲	-20 °C～+100 °C	-40 °C～+100 °C	-60 °C～+100 °C	-20 °C～+100 °C	-40 °C～+100 °C	-65 °C～+100 °C

共通仕様

パラメータ	値
内容積	22.5 Lおよび64 L
温度範囲	-65 °C～+150 °C
温度変動	≤ ±0.5 °C
温度偏差	≤ ±2.0 °C
湿度範囲	20 %～98 % RH（5 % RHはオプション）
湿度偏差	±3.0 % RH（75 % RH超）、±5.0 % RH（75 % RH以下）
騒音	≤ 68 dB
オプション付属品	操作穴付き内扉、記録計、水精製装置など
電源	AC 220 V、単相、3線、50/60 Hz

規格

ベンチトップ型試験槽は、IEC 60068、MIL-STD-810、ISO 16750、ASTM D4332および該当するISTA試験手順に基づく試験プログラムに使用できます。

リチウムイオン、EV電池、ESS試験用バッテリー試験槽

Mon, 01 Jan 0001 00:00:00 +0000

TestEQのバッテリー試験槽は、リチウムイオンセル、モジュール、バッテリーパックに制御された温度環境とオプションの湿度環境を提供します。バッテリー認定における環境試験部分（温度サイクル、温度暴露、複合気候試験）を支援し、TestEQの高度、熱衝撃、振動システムと組み合わせることで、UN38.3試験プログラム全体をカバーできます。

アプリケーション

電気自動車用バッテリーパック
エネルギー貯蔵システム（ESS）
民生用および産業用リチウム電池製品
バッテリーセル、モジュール、バッテリーパック
第三者機関およびOEMの信頼性試験室

構成と機能

バッテリー環境シミュレーションに対応する広い温度試験範囲。
複合気候試験に対応するオプションの湿度制御。
均一な熱分布のための最適化された気流。
強化防爆安全設計が利用可能です。
セル、モジュール、バッテリーパックの試験に対応。
統合された安全アラームと緊急停止システム。
カスタムチャンバーサイズと治具設計が利用可能です。
温度サイクル試験向けに±0.5 °Cの温度精度で構成された温度チャンバー。
認定文書用のプログラム可能な試験プロファイル、遠隔監視、データロギングとレポート作成。

仕様

パラメータ	値
試験体	セル、モジュール、バッテリーパック
温度精度	±0.5 °C（温度チャンバー構成）
湿度制御	オプション、複合気候試験用
低圧試験	UN38.3 T1用の高度シミュレーションチャンバー
複合試験	高度、熱衝撃、振動システムと組み合わせて構成可能
安全性	強化防爆設計が利用可能、統合アラームと緊急停止
文書化	データロギングとレポート作成を備えたプログラム可能なプロファイル

必要なチャンバー構成はバッテリーの種類、試験方法、認定プログラムによって異なります。チャンバーサイズと治具はそれに応じてカスタマイズされます。

UN38.3試験対応

UN38.3（国際連合「危険物輸送に関する勧告」試験および判定基準マニュアルの38.3項）は、リチウム電池の輸送安全性に関する8つの手順を定めています。TestEQはそのうちのいくつかに環境試験装置を提供しています。

T1 高度シミュレーション — 高高度航空輸送に相当する低圧条件用の高度試験槽。
T2 熱試験 — 繰り返しの高温および低温暴露用の温度チャンバーまたは温度サイクルチャンバー。
T3 振動試験 — 振動および輸送シミュレーションシステム。
T4 衝撃試験 — 機械的衝撃システム、大型バッテリーパック向けのカスタマイズソリューション。
T5 外部短絡、T6 衝撃と圧壊、T7 過充電、T8 強制放電 — 電気的および機械的乱用試験装置。

規格

チャンバーはUN38.3試験に対応し、IEC 60068やIEC 62133を含む関連する信頼性要件に合わせて構成できます。技術資料：熱衝撃試験槽、高度（低圧）試験槽、温度湿度試験槽、温度湿度振動試験槽。

温湿度振動複合試験槽 — EVT / EVTH シリーズ

Mon, 01 Jan 0001 00:00:00 +0000

TestEQ温湿度振動複合試験槽は、温度・湿度・機械的振動を1つの統合された試験環境で製品に印加する複合環境信頼性システムです。この構成はAGREE環境試験に関連付けられており、気候条件と機械的振動を個別の要因としてではなく、同時に評価します。

用途

航空宇宙・防衛機器
自動車・EV部品
電子機器・通信機器
複合ストレス環境認定が必要な製品

構成と特長

温度範囲 -70 °C～+180 °C（200 °Cはオプション）。
湿度範囲 10 %～98 % RH。
温度と湿度は槽内で制御され、振動システムが必要な動的加振を印加します。
3軸（3-Axis）AGREE構成。
温度・湿度・振動を単一の統合プロファイルで複合試験。
振動印加中に湿度が存在する場合、機械的運動が湿気に関連する劣化メカニズムと相互作用する可能性があり、プロファイルはそれに応じて定義されます。
PID制御、プログラム可能なプロファイル、RS-485通信。
実際の仕様は槽サイズ、加振機の選定、供試体の特性、環境要件によって異なります。

仕様

機種ラインナップ（EVTHシリーズ）

内容積	機種バリエーション	内寸 W×H×D	外寸 W×H×D	振動加振機テーブル
0.408 m³	EVTH408-40W5 / -55W5、EVTH408-40W10 / -55W10、EVTH408-40W15 / -55W15	700×800×730 mm	900×1790×2640 mm; 900×1900×2813 mm; 900×1900×2813 mm; 1000×2150×2640 mm; 1000×1900×2890 mm; 900×1900×2890 mm	600×600 mm
0.602 m³	EVTH600-40W5 / -55W5、EVTH600-40W10 / -55W10、EVTH600-40W15 / -55W15	800×940×800 mm	900×1900×2813 mm; 1000×2150×2640 mm; 1000×1900×2890 mm; 900×1900×2890 mm	800×800 mm
1.0 m³	EVTH1000-40W5 / -55W5、EVTH1000-40W10 / -55W10、EVTH1000-40W15 / -55W15	1000×1000×1000 mm	1200×1900×3200 mm; 1200×1900×3470 mm; 1200×1900×3470 mm	800×800 mm
2.4 m³	EVTH2350-40W5 / -55W5、EVTH2350-40W10 / -55W10、EVTH2350-40W15 / -55W15	1400×1200×1400 mm	1600×2100×3720 mm; 1600×2100×3950 mm; 1600×2100×3950 mm	1000×1000 mm

バリエーション別温度昇降速率

バリエーション	温度上昇	降温速度
W5	平均 7 °C/min	平均 6 °C/min
W10	平均 15 °C/min	平均 11 °C/min
W15	平均 15 °C/min	平均 15 °C/min

機種別定格出力

内容積	W5 (40W / 55W)	W10 (40W / 55W)	W15 (40W / 55W)
0.408 m³	12 kW / 14 kW	18 kW / 22 kW	22 kW / 28 kW
0.602 m³	16 kW / 20 kW	24 kW / 30 kW	34 kW / 38 kW
1.0 m³	20 kW / 24 kW	26 kW / 32 kW	45 kW / 48 kW
2.4 m³	35 kW / 44 kW	54 kW / 65 kW	65 kW / 85 kW

共通仕様

パラメータ	値
温度範囲	-70 °C～+180 °C（200 °Cはオプション）
温度変動	≤ ±0.5 °C
温度偏差	≤ ±2.0 °C
温度均一性	≤ 2.0 °C
湿度範囲	10 %～98 % RH
湿度均一性	±1.0 % RH
相対湿度偏差	≤ +2.0 %～-3 % RH（湿度 > 75 % RH）；≤ ±5.0 % RH（湿度 ≤ 75 % RH）
観察窓サイズ	W330 × H360 mm（0.408 / 0.602 m³）；W380 × H520 mm（1.0 / 2.4 m³）
冷却方式	空冷または水冷 / 単段圧縮機（-40 °C）；二段圧縮機（-70 °C）
構造形式	L - エレベーター、G - ガントリーエレベーター、F - 治具タイプ
オプション付属品	操作孔付き内扉、記録計、純水器、除湿機
電源	AC 380 V、3相、5線、50/60 Hz

機種名称にはEVTシリーズが含まれます。性能例はIEC 60068-3-5に基づいて規定されています。

急速温度変化試験槽 — EATHシリーズ

Mon, 01 Jan 0001 00:00:00 +0000

TestEQ EATHシリーズ急速温度変化試験槽は、製品に制御された直線的な温度変化を与えることで、熱疲労を加速させ、温度に関連する故障メカニズムを顕在化させる装置です。遷移速度、均一性、再現性が重要な温度サイクル試験に適しています。

用途

半導体およびICの信頼性試験・温度サイクル試験
PCB実装基板、はんだ接合部、相互接続部
車載電子機器およびEVパワーモジュール
航空宇宙および通信機器
電池セルおよびモジュール
材料およびコーティング

構成と特長

温度範囲 -70 °C～+180 °C（200 °Cはオプション）。
直線昇降温速度は5 °C/min～30 °C/min。一般的な速度は5、10、15、20、25 °C/minで、特定の構成では最大30 °C/minが可能です。
一般的な試験範囲は-40 °C～+85 °C。
温度変動 ≤ ±0.5 °C、温度偏差 ≤ ±2.0 °C、温度均一性 ≤ 2.0 °C。
高速昇降温時においても温度均一性と制御安定性を維持します。
空気循環は、温度均一性と試験体がプログラムされた温度に曝される速度を一定に保つよう設計されています。
空冷式「Cold Fusion」気流設計。
ポンプ給水方式。観察窓 W×H 380×520 mm。
プログラム可能なプロファイルに対応したPID制御、RS-485通信。
オプションとして高速昇降温アップグレード（≥ 30 °C/min）があります。
特許番号：CN201920954255.X。

仕様

機種ラインナップ（EATHシリーズ）

機種	内容積 (m³)	内寸 W×H×D (mm)
EATH800-40W5 / EATH800-40W10 / EATH800-40W15	0.8	1000×1000×800
EATH800-55W5 / EATH800-55W10 / EATH800-55W15	0.8	1000×1000×800
EATH1000-40W5 / EATH1000-40W10 / EATH1000-40W15	1.0	1000×1000×1000
EATH1000-55W5 / EATH1000-55W10 / EATH1000-55W15	1.0	1000×1000×1000

Wの後の接尾辞は構成された昇降温速度を示します（W5 = 5 °C/min、W10 = 10 °C/min、W15 = 15 °C/min）。外形寸法は加速速度および温度範囲の構成によって異なります。資料ではEATH800 / EATH1000シリーズ全体にわたり、外形 W×H×D が1200×900×2670、1200×930×2870、1200×900×1970、1200×1900×2870 mmと記載されています。

急速減圧・爆発減圧試験チャンバー

Mon, 01 Jan 0001 00:00:00 +0000

TestEQ急速減圧試験チャンバーは、通常の高度変化よりも速くワークボリューム内の圧力を低下させるため、供試品は高度での与圧喪失に続いて発生する圧力順応事象を経験します。本チャンバーは、急速減圧と爆発減圧という2つの排気速度に対応するために設計された圧力容器であり、基盤プラットフォームの温度・湿度・高度制御を備えて納入されます。

概要

航空機の客室、貨物室、与圧容器は、外気とは異なる圧力を保持しています。その圧力が突然解放されると、内部のあらゆるものは非常に短時間での段階的な圧力変化にさらされます。地上試験では、この事象を2つの厳しさで再現します。

急速減圧 — 圧力が規定の秒数にわたって低下し、乗員が制御された緊急降下や緩やかな漏洩の際に経験する速度に近いものです。
爆発減圧 — 圧力がほぼ瞬時に低下し、圧力境界の構造的破壊を再現します。

どちらの事象も、圧力区間とそれを通過する時間によって定義されます。本チャンバーは圧力を主要パラメータとして制御し、高度は等価な環境基準として用いられます。

急速減圧と爆発減圧の比較

2つの試験モードは同じ圧力区間を使用し、排気速度が異なります。急速減圧設定では、チャンバーは15秒以内に10,000 mの圧力差（2,500 m → 12,500 m）を達成します。爆発減圧設定では、その区間を0.1秒以下で通過します。

パラメータ	急速減圧	爆発減圧
圧力区間	75.2 kPa ~ 18.8 kPa	75.2 kPa ~ 18.8 kPa
区間通過時間	≤ 15 s（オプション）	≤ 0.1 s（オプション）
等価高度変化	10,000 mの差（2,500 m → 12,500 m）を15秒以内	—

どちらのモードも高度チャンバープラットフォームのオプション構成です。急速減圧は、試験プロファイルが高速だが限界のある降下を要求する場合に使用され、爆発減圧は圧力境界が警告なしに破壊する場合に使用されます。

用途

航空・宇宙機器、客室構成部品、計器
搭載電子機器、アビオニクス、センサー
航空機のシール、ガスケット、コネクタ、圧力感知アセンブリ
高高度輸送容器、包装、貨物
与圧筐体の破壊後も生存または動作継続が求められる供試品

仕様

急速減圧および爆発減圧機能は高度チャンバープラットフォーム上に構築されています。上記の圧力区間と時間は減圧定格であり、以下の値は同じチャンバーに適用されるプラットフォーム定格です。

パラメータ	値
圧力区間（急速減圧）	75.2 kPa ~ 18.8 kPa、≤ 15 s（オプション）
圧力区間（爆発減圧）	75.2 kPa ~ 18.8 kPa、≤ 0.1 s（オプション）
圧力差	10,000 m（2,500 m → 12,500 m）を15秒以内
高度シミュレーション	海面から43,000 m（110～0.1 kPa）
温度範囲	−70 °C～+180 °C
湿度範囲	10 %～98 % RH
チャンバー容量	0.125～8.9 m³（カスタマイズ可能）
騒音	≤ 68 dB
特許番号	CN202310792763.3

チャンバーの寸法、容量、減圧プロファイルは、供試品と要求される規格に合わせて設定されます。達成可能な減圧時間はチャンバー容積、内部の物品、真空・バルブ構成に依存するため、詳細なパラメータについては営業チームとの協議が必要です。

高圧試験チャンバー

Mon, 01 Jan 0001 00:00:00 +0000

TestEQの高圧試験チャンバーは、耐圧性、漏れ、密封性、構造健全性、信頼性試験のために制御された高圧条件を再現する、カスタム設計の圧力容器です。使用圧力は50 MPaに達し、ガスまたは液体の試験媒体に対応した構成が可能で、温度・湿度制御もオプションで追加できます。

用途

航空宇宙部品および圧力に敏感なアセンブリ
自動車およびEVバッテリー部品
バルブ、シール、継手、流体を含む部品
電子機器、エネルギー、産業設備
耐圧性、漏れ、密封性、構造健全性の検証

構成と特長

使用圧力 -0.1～50 MPa（構成により異なります）。
チャンバー容量 500 L～50,000 L。
圧力制御精度 ≤ ±0.0002 MPa。
ガス圧試験または液体・耐水圧試験。
複合的なマルチストレス試験に対応するオプションの温度・湿度制御。
常圧から0.8 MPaまでの加圧は30分以内、0.8 MPaから常圧までの減圧は30分以上。
チャンバー材質はSUS304、SS316L、またはカスタム合金。
密封システム：磁気式、機械式、パッキン式、ガスケット式。
統合安全システム：圧力監視、過圧保護、安全インターロック、加圧・減圧の制御、緊急停止、データ記録。

仕様

パラメータ	TestEQ構成
使用圧力	-0.1～50 MPa（構成により異なります）
チャンバー容量	500～50,000 L
圧力精度	≤ ±0.0002 MPa
圧力媒体	ガス／液体
湿度制御	20～80 % RH、オプション
加圧速度	常圧から0.8 MPaまで ≤ 30分
減圧速度	0.8 MPaから常圧まで ≥ 30分
チャンバー材質	SUS304／SS316L／カスタム合金
密封システム	磁気式／機械式／パッキン式／ガスケット式
構成	標準またはカスタム設計

実際の性能は、圧力範囲、チャンバーサイズ、試験媒体、温度要件、お客様の試験条件によって異なります。

規格

適用される規格は、製品、試験目的、圧力媒体、要求される環境条件によって異なります。IEC 60068、IEC 60529、ISO 20653、ISO 11439、およびお客様固有の圧力・漏れ・信頼性試験仕様を含むプロジェクトに対応したシステムを構成できます。

高低温（湿度）試験槽 — ETHシリーズ

Mon, 01 Jan 0001 00:00:00 +0000

TestEQ ETHシリーズ温湿度試験槽は、部品、アセンブリ、材料の信頼性試験のために制御された温度・湿度条件を再現します。本シリーズは0.8～8 HPの用途別圧縮機と最適化された空気循環システムを採用しています。

用途

電子機器およびPCBアセンブリ：耐湿熱、温湿度曝露試験
半導体および電子部品
自動車およびEV部品
航空宇宙および防衛機器
電池およびパワーエレクトロニクス
材料、コーティング、接着剤

試験槽構成

245 Lから1000 Lまでのキャビネットモデルをラインナップ。大型ウォークイン温湿度システムは最大4500 m³までカスタマイズ可能です。
温度範囲はモデルにより-40 °C～+180 °Cまたは-70 °C～+180 °Cです。
湿度範囲は10 %～98 %RH（5 %～98 %RHはオプション）で、ポンプ給水方式です。
安定性試験のための恒温制御は≤ ±0.3 °Cです。
露点温度範囲は7 °C～87 °C、拡張露点条件は-10 °Cです。
0.8～8 HPの用途別圧縮機が速い製品温度変化率を実現し、より速い移行が試験サイクルを短縮します。
最適化された空気循環が温度勾配、制御精度、信頼性を向上させます。
7インチカラータッチスクリーンコントローラはプログラムモード（20プログラム、各最大50ステップ、最大20ループ）と定値モードを搭載。RS-485によるローカルおよびリモート通信に対応し、最大16台の試験槽を最大合計ケーブル長800 mで接続できます。
過温度保護、停電保護、上下限温度リミット、タイマー起動/停止、自己診断機能を備えています。
騒音≤ 68 dB。

仕様（ETHシリーズ）

パラメータ	ETH225-40	ETH225-70	ETH408-40	ETH408-70	ETH1000-40	ETH1000-70
内容積（m³ / L）	0.245 / 245	0.245 / 245	0.408 / 408	0.408 / 408	1.0 / 1000	1.0 / 1000
内寸 W×H×D（mm）	700×700×500	700×700×500	700×800×730	700×800×730	1000×1000×1000	1000×1000×1000
外寸 W×H×D（mm）	900×1680×1300	900×1680×1300	900×1780×1500	900×1780×1500	1200×1980×1700	1200×1980×1700
温度範囲	-40～+180 °C	-70～+180 °C	-40～+180 °C	-70～+180 °C	-40～+180 °C	-70～+180 °C
温度変動	≤ ±0.5 °C	≤ ±0.5 °C	≤ ±0.5 °C	≤ ±0.5 °C	≤ ±0.5 °C	≤ ±0.5 °C
温度偏差	≤ ±2.0 °C	≤ ±2.0 °C	≤ ±2.0 °C	≤ ±2.0 °C	≤ ±2.0 °C	≤ ±2.0 °C
温度均一性	≤ 2.0 °C	≤ 2.0 °C	≤ 2.0 °C	≤ 2.0 °C	≤ 2.0 °C	≤ 2.0 °C
冷却 +25 → -20 °C（分）	30	18	30	18	30	19
冷却 +25 → -40 °C（分）	60	35	60	32	60	32
冷却 +25 → -70 °C（分）	—	80	—	80	—	80
加熱 -25 → +150 °C（分）	56	56	56	56	56	56
加熱 -40 → +85 °C（分）	50	50	50	50	50	50
加熱 -70 → +85 °C（分）	—	60	—	60	—	60
湿度範囲（%RH）	10～98 %RH	10～98 %RH	10～98 %RH	10～98 %RH	10～98 %RH	10～98 %RH
湿度均一性	±1.0 %RH	±1.0 %RH	±1.0 %RH	±1.0 %RH	±1.0 %RH	±1.0 %RH
相対湿度偏差	≤ +2.0～−3 %RH（>75 %RH）/ ≤ ±5.0 %RH（≤75 %RH）	左記に同じ	左記に同じ	左記に同じ	左記に同じ	左記に同じ
定格電流（A）	12	15	14	21	25	38
定格電力（kW）	6	8	7	10	12	18
電源	AC380V、3相5線、50/60 Hz

冷却/加熱時間は空槽時の値です。湿度表示は湿度仕様の試験槽に適用されます。5 %～98 %RHはオプション条件です。高湿度オプションには85 °C / 85 %RHで最低1000時間、40 °C / 75 %RH、55 °C / 10 %RH、65 °C / 95 %RHがあります。性能は50 Hz、実験室23.9 °C条件で測定されています。本試験槽は可燃性、爆発性、腐食性の試験品、または生体試料を対象としていません。

高度（低圧）試験槽 — EQTシリーズ

Mon, 01 Jan 0001 00:00:00 +0000

TestEQ EQTシリーズ高度試験槽は、製品開発、適合性評価、信頼性試験および研究のために、制御された高高度環境条件を再現します。実際の高高度地点で試験する代わりに、試験槽は管理された実験室内で大気圧を規定の条件まで低下させます。制御パラメータは絶対圧力であり、高度は等価な環境基準として使用されます。

用途

航空・宇宙機器および計器
高高度用途向けの電子部品および電気機械部品
高度および圧力条件に対する自動車・EV部品
材料、シールおよび梱包
研究およびシステムレベルの供試体

構成と特徴

広い高度シミュレーション範囲：0～50,000 ft（0～15,000 m）。
精密な圧力調整：±0.1 kPa。
圧力シミュレーションと組み合わせた温度・湿度制御が構成可能です。
圧力制御許容差は40 kPa～4 kPaで≤ ±5 kPa、4 kPa～1 kPaで≤ ±0.1 kPa。
高速減圧：75.2 kPa～18.8 kPaを≤ 15 s以内（オプション）、および特定構成で≤ 0.1 s以内（オプション）。
湿度範囲10 %～98 % RH、湿度偏差≤ ±2.0～3.0 % RH（75 % RH超）および≤ ±5.0 % RH（75 % RH以下）。
大型製品、アセンブリおよびシステムレベルの供試体については、必要な試験容積、圧力範囲、温度条件および実験室のワークフローに合わせて、カスタマイズおよびウォークイン型高度試験槽を開発できます。
特許番号 CN202310792763.3。

仕様

機種ラインナップ

パラメータ	EQT125-70W	EQT512-70W	EQT800-70W	EQT1000-70W	EQT2160-70W	EQT9.0-70W
内容積（m³）	0.125	0.512	0.8	1.0	2.16	8.9
内寸 W×H×D（mm）	500×500×500	800×800×800	1000×1000×800	1000×1000×1000	1800×1000×1200	1730×1980×2600
外寸 W×H×D（mm）	900×1680×1750	1200×1880×2050	1400×2080×2050	1400×2180×2250	2200×2180×2570	2130×2440×4673
昇温速度	2 °C/min	2 °C/min	2 °C/min	2 °C/min	2 °C/min	2 °C/min
降温速度	3 °C/min	3 °C/min	1～3 °C/min	1～3 °C/min	1～3 °C/min	1～3 °C/min
概算重量（kg）	850	1500	1900	2000	3500	9520

共通仕様

パラメータ	値
高度シミュレーション範囲	0～50,000 ft（0～15,000 m）
圧力範囲	常圧～0.5 kPa（500 Pa）
圧力調整	±0.1 kPa
圧力誤差（常圧→40 kPa）	≤ ±2 kPa
圧力誤差（40→4 kPa）	≤ ±5 kPa
圧力誤差（4→1 kPa）	≤ ±0.1 kPa
減圧時間	設置レベルから15,250 mまで10分、22,860 mまで20分、30,500 mまで30分
急速減圧（75.2→18.8 kPa）	≤ 15 s（オプション）
爆発的減圧（75.2→18.8 kPa）	≤ 0.1 s（オプション）
温度範囲	−70 °C～+180 °C（+200 °Cオプション）
温度変動	≤ ±0.5 °C（常圧、無負荷、定常状態）
温度均一度	≤ ±2.0 °C（常圧、無負荷、定常状態）
湿度範囲	10 %～98 % RH
湿度均一度	±1.0 % RH
湿度偏差	≤ ±2.0～3.0 % RH（75 % RH超）、≤ ±5.0 % RH（75 % RH以下）
騒音	≤ 68 dB

注記：外寸および騒音レベルは真空ポンプユニット（使用温度範囲−40 °C～+85 °C）を除きます。低圧・低温湿度制御装置のオプションがあります。その他の寸法はカスタマイズ可能です。詳細なパラメータについては営業チームへのお問い合わせが必要です。実際の性能は試験槽サイズ、試験負荷、発熱量、必要な圧力およびお客様の試験プロファイルによって異なります。

混合ガス腐食試験槽

Mon, 01 Jan 0001 00:00:00 +0000

TestEQ混合ガス腐食試験槽は、電子部品、接点およびアセンブリを制御された腐食性ガスの流動混合気体に曝露し、使用中に接点や相互接続の故障を引き起こす腐食性雰囲気を再現します。本試験はIEC 60068-2-60の流動混合ガス法を対象としています。

用途

電子部品、コネクタおよび接点
PCBアセンブリ、めっきスルーホールおよび相互接続部
産業、自動車および通信環境で使用される機器
耐食性の信頼性試験および認定試験

構成と特長

IEC 60068-2-60腐食試験に対応する流動混合ガス法。
ガス濃度は0.1 ppmから25 ppmまで調整可能（範囲はガス種により異なります）。
再現性のある曝露条件を実現する制御された混合ガス、温度および湿度。
最大4種のガスの同時供給に対応（H₂S、SO₂、Cl₂はN₂キャリアガス、NO₂は合成空気）し、複合汚染物質の相互作用研究が可能。
供試体をリアルタイムで監視できるアクリル（PMMA）製観察窓。
作業者の安全のための圧力監視システムおよびガスサンプリングポート。
均一なガス分布を実現する統合空気交換モジュール。
バッチまたは連続曝露に対応するプログラム可能な試験プロファイル。
本装置は二酸化硫黄腐食試験槽および硫化水素腐食試験槽に発展させることができます。

仕様

機種ラインナップ

パラメータ	MGCC225	MGCC408	MGCC512	MGCC1000
内容積	0.245 m³	0.408 m³	0.512 m³	1.0 m³
内寸法幅×高さ×奥行	700×700×500 mm	700×800×730 mm	800×800×800 mm	1000×1000×1000 mm
電源	9.5 kW	11.5 kW	14.5 kW	18.5 kW

共通仕様

パラメータ	値
容積	245 L (3.5 ft³) から 1000 L (70.6 ft³)（カスタマイズ可能）
対応ガス	H₂S、SO₂、Cl₂、NO₂
二酸化硫黄（SO₂）濃度	10 ppb から 30 ppm（調整可能）
硫化水素（H₂S）濃度	5 ppb から 15 ppm（調整可能）
二酸化窒素（NO₂）濃度	100 ppb から 500 ppb（調整可能）
塩素（Cl₂）濃度	5 ppb から 50 ppb（調整可能）
濃度範囲	0.1 ppm から 25 ppmまで調整可能（ガス種により異なります）
試験時間	0 から 9999 H、M、S（調整可能）
換気回数	3 から 10 回；一般的な選定 3 / 4 / 5 回（実際のニーズに応じて）
温度範囲（試験）	+15 °C から +60 °C
温度変動	≤ ±0.5 °C
温度偏差	≤ ±2.0 °C
温度均一性	≤ 2.0 °C
湿度範囲	50 % RH から 90 % RH
湿度偏差	≤ (+2, -3) % RH
湿度均一性	≤ 3 % RH
電源	AC 380 V、3相、5線、50/60 Hz

プラットフォームの一般的な動作能力には、温度範囲 -40 °C から +150 °C、温度精度 ±0.5 °C、湿度範囲 20 % から 98 % RH、湿度精度 ±2 % RHが含まれます。

砂塵試験槽 — SDB / SDJシリーズ

Mon, 01 Jan 0001 00:00:00 +0000

TestEQ砂塵試験槽は、大気中の粉塵、砂粒子、乾燥気候条件を制御された槽内で再現します。IEC 60529 IP5X/IP6X、MIL-STD-810H Method 510.7、ISO 20653に準拠し、砂漠、建設、軍事、産業環境における粉塵侵入および粒子汚染に対する筐体保護性能の検証に使用されます。

用途

自動車部品、センサー、ECU、充電システム
EVバッテリー部品および筐体
航空宇宙、アビオニクス、屋外通信機器
民生電子機器および屋外機器
産業用ロボット、モーター、制御システム、重機

構成と特徴

粉塵濃度は1–20 g/m³で調整可能、精度±0.5 g/m³。
気流速度1–20 m/s、静的または動的試験に対応して可変。
容量は標準0.6 m³、最大2.5 m³までカスタム対応、強化アクリル製観察窓付き。
プログラム可能な試験サイクル1–999時間、IP5X/IP6X適合モード付き。
ターンテーブル回転速度は2～10 r/minで調整可能。
送風気流速度1.5–8.9 m/s、または高厳しさ構成では18–29 m/s。
大容量モデルには水冷式冷却方式を採用。
均一な粒子分散のためのサイクロン分散システム。
硬質コーティングアルミニウム内装、耐摩耗シール、自浄式フィルタートラップ。
温度記録付きリアルタイム粒子カウンター。

仕様

機種ラインナップ

Parameter	SDB60	SDB100	SDB340	SDJ60	SDJ250
Internal capacity (m³)	0.6	1.0	3.4	1.0	2.5
Internal dimension W×H×D (mm)	800×800×1000	1000×1000×1000	1500×1500×1500	1000×1000×1000	1500×1500×1500
External dimension W×H×D (mm)	1300×1500×2100	1800×1400×2000	2000×2300×2500	6000×8500×3350	6250×8500×3650
Standards compliance	GB (G)	GB (G)	GB (G)	GJB150 (J)	GJB150 (J)
Temperature range	RT+5 °C to +60 °C	RT+5 °C to +60 °C	RT+5 °C to +60 °C	+20 °C to +80 °C	+20 °C to +80 °C
Cooling method	—	—	—	water-cooled	water-cooled

注記：型番の接尾辞Gは中国国家標準GB、接尾辞Jは国家軍用標準GJB150を示します。槽の寸法および特殊機能はご要望に応じてカスタマイズ可能です。

着氷試験槽 — 着氷および着氷性雨試験

Mon, 01 Jan 0001 00:00:00 +0000

TestEQの着氷試験槽は、供試品の上に制御された氷の層を成長させ、機能確認を実施するのに十分な時間その状態を保持します。冷却および水噴霧のシーケンスは供試品に合わせて構成されるため、部品、サブアセンブリ、または完成車両を同一の槽内で凍結、噴霧、試験することができます。この装置は、着氷が形成された後も機器が動作し続けなければならないあらゆる場面で使用されます。すなわち、着氷要件に基づいて認定される航空機搭載機器や、着氷性雨や路面からの飛沫にさらされる自動車用または屋外設置のハードウェアです。

用途

自動車部品および車両サブアセンブリ
完成車両および大型アセンブリ（小型DUTと同じプラットフォームで試験可能）
航空機搭載機器およびアビオニクスの着氷認定
屋外設置、露出、路側設置の機器
供試品に氷が付着したまま実施する機能信頼性確認

構成と特長

制御された着氷により、同一の着氷条件を試験間で再現できます。
急速着氷試験に対応する構成可能な冷却および噴霧シーケンス。
着氷性雨をシミュレーションするために設計された水噴霧システム。
小型DUTから完成車両まで対応する車両および部品の試験。
適用される試験規格およびDUT要件に基づく試験槽の設計。
制御された着氷下での機能信頼性試験。

試験槽は固定されたカタログサイズに基づいて製造されるものではありません。内部寸法、冷却方式、噴霧レイアウト、およびこれらを駆動するシーケンスは、供試品および試験プロファイルとともに定義されるため、試験プログラムを試験槽に合わせるのではなく、供試品に合わせて構成することができます。

規格

これらのシステムで参照される着氷要件は、RTCA DO-160「航空機搭載機器の環境条件および試験手順」です。DO-160Gでは、着氷要件はセクション24〜26に含まれます。これは静電気放電、火災および可燃性も対象とする特別安全環境グループです。着氷プロファイルは認定プログラムおよび機器カテゴリによって異なるため、適用されるセクションと供試品によって試験槽の構成および噴霧システムが決定されます。

試験槽のサイズ選定

レイアウトを決定する要素は2つあります。供試品の大きさと、その上に氷をどのように分布させるかです。センサやアクチュエータハウジングと完成車両では、有効容積、噴霧範囲、および試験を実行するシーケンスに対する要求が大きく異なります。供試品、適用される規格のセクション、および再現すべき着氷条件をお知らせいただければ、それらに合わせて試験槽を構成いたします。

着氷または着氷性雨プロファイルに試験槽を適合させるには、供試品の寸法、適用されるRTCA DO-160のセクション、および必要な着氷量を添えてお問い合わせください。関連製品：ウォークイン環境試験槽、高度（低圧）試験槽、熱衝撃試験槽。

熱衝撃試験槽 — ETSシリーズ

Mon, 01 Jan 0001 00:00:00 +0000

TestEQ ETSシリーズ熱衝撃試験槽は、供試品を高温ゾーンと低温ゾーン間で急激に移動させ、耐熱衝撃性を評価します。試験中に供試品を移動できるかどうかに応じて、2ゾーン方式または3ゾーン方式を選択します。

用途

半導体、IC、電子部品
PCB実装基板およびはんだ接合部
車載電子機器およびEVパワー部品
航空宇宙、防衛、通信機器
新素材、ガラス、セラミックス、複合材料
バッテリーおよびパワーモジュール

2ゾーン方式と3ゾーン方式

2ゾーン方式：供試品バスケットが予熱ゾーンと予冷ゾーン間を垂直または水平に移動します。バスケット移動時間は10秒以下、温度復帰は通常5分以内に仕様範囲内となります。
3ゾーン方式：高温、低温、常温の各ゾーンが独立しており、供試品を静止させたままエアをゾーン間で切り替えます。遷移時間は3～10秒以下で、バスケット移動による機械的ストレスが排除されます。
3ゾーン方式は、再現性とデータの一貫性が重要となる高精度電子実装品、半導体デバイス、航空宇宙部品に適しています。

構成と特長

温度範囲 -70 °C～+200 °C。
予熱範囲 +60 °C～+200 °C、昇温速度 +60 °C～+200 °C ≤ 20分。
冷却速度 +20 °C～-70 °C ≤ 30分。
高速温度遷移と制御された復帰により、繰り返し熱衝撃サイクルに対応（対応構成では2000サイクル以上の連続試験が可能）。
PID制御、タッチスクリーンプログラミング、RS-485通信。
オプションとしてバスケット位置数、積載容量、試験治具があり、供試品と負荷プロファイルに応じて選定します。

仕様

モデルラインナップ

2ゾーン垂直バスケット式試験槽（ETS12 / ETS15）

項目	ETS12-20A-L	ETS15-4.5A-L
内容積	2.1 L	4.5 L
内寸 W×H×D	120×150×120 mm	150×150×200 mm
外寸 W×H×D	1140×1785×1240 mm	1200×1785×1320 mm
バスケット積載量（均等荷重）	1.0 kg	2.0 kg
高温／低温ゾーン内寸	260×350×440 mm（40 L）	290×350×520 mm（52 L）
高温	+150 °C（オプション200 °C）	+150 °C（オプション200 °C）
低温	-65 °C	-65 °C

2ゾーン垂直バスケット式試験槽（ETS23 / ETS60 / ETS125）

項目	ETS23	ETS60	ETS125
内容積	0.023 m³	0.06 m³	0.125 m³
内寸 W×H×D	270×310×270 mm	380×370×430 mm	470×410×650 mm
外寸 W×H×D	700×1534×1800 mm	875×1895×1970 mm	970×1895×2350 mm
モデル（-40W-D）	ETS23-40W-D	ETS60-40W-D	ETS125-40W-D
モデル（-55W-D）	—	ETS60-55W-D	ETS125-55W-D
モデル（-65W-D）	ETS23-65W-D	ETS60-65W-D	ETS125-65W-D
定格電力（-40W）	13 kW	16 kW	20 kW
定格電力（-55W）	—	18 kW	22 kW
定格電力（-65W）	14 kW	22 kW	24 kW
概算重量	520 kg	960 kg	1300 kg

3ゾーン方式試験槽（ETS70 / ETS110 / ETS200 / ETS300）

項目	ETS70	ETS110	ETS200	ETS300
内容積	0.07 m³	0.11 m³	0.2 m³	0.3 m³
内寸 W×H×D	410×460×370 mm	650×460×370 mm	650×460×670 mm	970×460×670 mm
外寸 W×H×D	1470×1860×1570 mm	1710×1860×1570 mm	1710×1860×1870 mm	2030×1860×1870 mm
モデル（-40W）	ETS70-40W	ETS110-40W	ETS200-40W	ETS300-40W
モデル（-55W）	—	—	ETS200-55W	ETS300-55W
モデル（-65W）	ETS70-65W	ETS110-65W	—	ETS300-65W
定格電力（-40W）	26 kW	29 kW	37 kW	37 kW
定格電力（-55W）	—	—	38 kW	38 kW
定格電力（-65W）	38 kW	42 kW	—	58 kW
概算重量	1050 kg	1150 kg	1400 kg	1470 kg

2ゾーン水平バスケット式試験槽（ETS300 / ETS500 / ETS1000）

項目	ETS300	ETS500	ETS1000
内容積	0.30 m³	0.50 m³	1.00 m³
内寸 W×H×D	800×620×600 mm	1000×800×620 mm	1200×1000×800 mm
外寸 W×H×D	2150×1980×1700 mm	2550×2140×1980 mm	2950×2400×2250 mm
モデル（-40W-D）	ETS300-40W-D	ETS500-40W-D	ETS1000-40W-D
モデル（-55W-D）	—	ETS500-55W-D	ETS1000-55W-D
モデル（-65W-D）	ETS300-65W-D	—	—
定格電力（-40W）	35 kW	50 kW	80 kW
定格電力（-55W）	—	55 kW	85 kW
定格電力（-65W）	48 kW	—	—
概算重量	1650 kg	2250 kg	3250 kg

共通仕様

項目	値
試験ゾーン温度範囲	-40W(-D)：+60 °C～+150 °C / 0 °C～-40 °C、-55W(-D)：+60 °C～+150 °C / 0 °C～-55 °C、-65W(-D)：+60 °C～+150 °C / 0 °C～-65 °C、オプション -70W(-D)：+60 °C～+200 °C / 0 °C～-70 °C
移動時間（2ゾーンバスケット）	≤ 10 s
遷移時間（3ゾーン）	≤ 3～10 s
温度安定度	±0.5 °C
予熱範囲	+60 °C～+200 °C、昇温速度 +60 °C～+200 °C ≤ 20分
予冷範囲	-75 °C～0 °C、冷却速度 +20 °C～-70 °C ≤ 30分（3ゾーン構成では ≤ 70分）
蓄熱槽	RT～200 °C / 約15分（2ゾーン）、RT～200 °C / 約30分（3ゾーン）
蓄冷槽	RT～-70 °C / 約15分（2ゾーン）、RT～-70 °C / 約45分（3ゾーン）
復帰／変換時間	≤ 0.5～3分 / ≤ 3 s（2ゾーン）、≤ 5分 / ≤ 5 s（3ゾーン）
制御精度／分布精度	±0.5 °C / ±2 °C
温度変動／偏差／均一性（3ゾーン）	≤ ±0.5 °C / ≤ ±2.0 °C / ≤ 2.0 °C
冷却システム	セミハーメチック二段圧縮機（水冷式）、ハーメチック二段圧縮機（空冷式）
制御システム	PLC + タッチスクリーン
サイクル寿命	2000サイクル以上の連続試験
電源	AC 380 V、3相5線、50/60 Hz
オプション	LN₂冷却 -196 °C、観察窓、大容量カスタム槽（最大12,000 L、3ゾーン）、遠隔監視（Modbus / IoT）、半導体試験モード（JEDEC）

モデル名にはETSシリーズが含まれます（例：ETS23-40W-D、ETS125-65W-D、ETS300-40W-D、ETS500-55W-D）。最終仕様は試験槽モデル、遷移要件、試験負荷によって決まります。

熱真空チャンバー

Mon, 01 Jan 0001 00:00:00 +0000

TestEQ熱真空チャンバーは、宇宙空間で運用される機器が直面する低圧と熱の複合条件を再現し、宇宙環境シミュレーションおよび真空下での熱サイクル試験に対応します。高真空性能と超広範囲の温度域を備え、真空と熱サイクルを同時に印加することができます。

用途

宇宙機、衛星、宇宙用機器の試験
航空宇宙用部品および計測器
半導体製造装置および精密部品
真空下でのアウトガスおよび材料評価
真空と熱サイクルの複合条件が必要な部品

構成と特長

1.0×10⁻⁷ mbarまでの高真空レベル。
室温における無負荷真空度5×10⁻⁷ mbar。
温度範囲-190 °C（液体窒素冷却）～+200 °C。
真空と熱サイクルの同時印加が可能。
複数の真空レベルにわたる安定した圧力制御。
チャンバー、シュラウド、冷却システムは、供試体および要求される温度プロファイルに合わせて構成。
特許番号CN202510795397.6。

仕様

機種ラインナップ

項目	EZKT 1000-5	EZKT 1200-5	EZKT 1700-5
内容積	0.402 m³	0.785 m³	2.65 m³
サーマルシュラウド内寸（円筒直胴部）	ø 800×800 mm	ø 1000×1000 mm	ø 1500×1500 mm
真空チャンバー内寸（円筒直胴部）	ø 1000×1000 mm	ø 1200×1200 mm	ø 1700×1700 mm
熱板寸法	600×500 mm	800×700 mm	1300×1200 mm

共通仕様

項目	値
内容積範囲	0.5 m³～2.65 m³（カスタマイズ可能）
高真空レベル	1.0×10⁻⁷ Torr（1.33×10⁻⁷ mbar）
無負荷真空度	5.0×10⁻⁷ mbar（室温）
複数レンジの圧力制御	1.0×10⁻²、1.0×10⁻³、1.0×10⁻⁴、1.0×10⁻⁵、1.0×10⁻⁶ mbar/Torrでの安定運転（室温）
真空キューブリークレート	≤ 1×10⁻⁹ std/cc/sec
冷凍方式	A：サーマルシンク＋コールドプレート、B：サーマルシンク＋加熱ケージ、C：液体窒素サーマルシンク＋加熱ケージ
温度範囲	ガス窒素制御 -180 °C～+200 °C、機械式冷凍 -80 °C～+150 °C、液体窒素浸漬 -190 °C
温度均一性	±2 °C（真空環境下で安定状態にあるヒートシンクおよびコールドプレート上の任意の点で測定）
昇温／降温速度（機械式冷却）	-70 °C～+100 °C ≥ 3 °C/min、+100 °C～-50 °C ≥ 3 °C/min
昇温／降温速度（オプション、加圧GN₂循環）	-150 °C～+125 °C ≥ 3 °C/min、+125 °C～-150 °C ≥ 3 °C/min
真空排気システム	メカニカルポンプ／ルーツポンプ／分子ポンプ／クライオポンプ
電源	AC 380 V、3相、5線、50/60 Hz
特許	CN202510795397.6

システム構成オプション

システム構成	標準構成	カスタム構成
真空容器	✓	✓
チャンバー容積	✓	✓
真空排気システム	✓	✓
サーマルシュラウド	✓	✓
コールドプレート	オプション	✓
加熱システム	✓	✓
冷却システム	✓	✓
ペイロード治具	オプション	✓
電気導入端子	オプション	✓
残留ガス分析計（RGA）	オプション	✓
データ収集システム	オプション	✓
熱平衡	オプション	✓
太陽光シミュレーション	オプション	✓
自動制御	✓	✓

10⁻⁵～10⁻⁷ Torr/mbarレンジの真空度は、ミッション要求に応じて宇宙機のTVAC認定試験で一般的に用いられます。

熱真空洗浄システム

Mon, 01 Jan 0001 00:00:00 +0000

TestEQ熱真空洗浄システムは、制御加熱、真空排気、およびオプションの不活性ガスパージを組み合わせ、半導体製造装置部品から残留水分、揮発性化合物、炭化水素を除去します。再現性のある熱処理と汚染管理を必要とする半導体ファブ、装置メーカー、部品再生施設、高純度製造環境向けに設計されています。

用途

半導体装置部品の乾燥および準備
精密部品の真空ベークアウト
水分除去および揮発性有機残留物の除去
真空対応アセンブリの脱ガス低減
プロセスチャンバー部品の洗浄および準備
水系または溶剤系洗浄後の乾燥
設置前の部品のプリコンディショニング

構成と特徴

必要な圧力範囲、チャンバー容積、プロセス負荷に応じて選定された真空システムによりチャンバーを排気します。
定義された温度レシピに従った制御加熱、プログラム可能な温度プロファイルを備えています。
放出された汚染物質を連続的に排出する真空ベークアウト段階。
圧力サイクル、冷却、または残留揮発性物質の除去のためのオプションの窒素または適合不活性ガスパージ。
チャンバーが大気圧に戻る前の制御された冷却およびベントシーケンス。
低脱ガス仕様のSUS304 / SUS316Lチャンバー構造および部品専用治具。
レシピ管理、データロギング、アラーム、インターロックを備えたPLC + タッチスクリーンHMI制御。
全自動または半自動運転。
特許番号 CN202510795397.6。

仕様

パラメータ	値
真空度	≤ -0.1 MPa（カスタマイズ可能）
温度範囲	常温から450 °C
温度制御精度	±1 °C
チャンバー材質	SUS304 / SUS316L 低脱ガスステンレス鋼
加熱方式	輻射 / 伝導ハイブリッド加熱
洗浄方式	熱 + 真空 + オプションのガスアシスト
サイクルタイム	30～120分
制御システム	PLC + タッチスクリーンHMI
自動化	全自動 / 半自動

実際の温度範囲、到達真空度、排気速度、昇温速度、温度均一性、サイクルタイムは、お客様の部品、汚染レベル、および要求されるプロセス仕様に基づいて確認されます。チャンバー寸法、温度範囲、真空アーキテクチャ、治具、ガスパージ、データロギングはカスタマイズ可能です。

規格

適用される清浄度、材料適合性、真空要件は、お客様の製造プロセスおよび部品仕様によって異なります。関連分野には、SEMI半導体製造要件、ISO 14644クリーンルームおよび汚染管理、ASTM E595脱ガス評価が含まれます。

チャンバー、真空システム、治具、プロセスレシピを決定するには、部品寸法、材質、汚染の種類、必要な温度および真空度を添えてお問い合わせください。関連製品：熱真空チャンバー、カスタム非標準試験チャンバー。

燃料蒸気および爆発危険性試験用の爆発性雰囲気試験槽

Mon, 01 Jan 0001 00:00:00 +0000

TestEQの爆発性雰囲気試験槽は、密閉されたキャビネット内部に爆発性ガス環境を再現し、機器の着火および爆発危険性を確認できるようにします。可燃性ガスまたは蒸気が存在する可能性のある場所で使用される部品や筐体を、MIL-STD-810H Method 511、IEC 60079、ATEXおよびお客様固有の規格に準拠して認定するために使用されます。

用途

燃料取扱い、石油化学、製油所エリアに設置される部品および筐体
危険場所向けに設計された電気・電子アセンブリ
燃料蒸気に曝される航空宇宙、防衛、アビオニクス機器
可燃性ガス付近で使用されるセンサー、コネクタ、スイッチ
ゾーン規格環境における産業用計装および制御システム

構成と特徴

ガソリン蒸気、水素、メタン、プロパンなどの爆発性ガス環境をシミュレートします。
ガス濃度制御と圧力監視を試験サイクルに統合しています。
爆発性雰囲気試験中も信頼性の高い運転を実現するインテリジェント安全保護。
実験室用、産業用、完全カスタマイズのチャンバーサイズをご用意しています。
自動データロギング、アラーム管理、試験レポート生成を備えたPLCタッチスクリーンコントローラ。
TestEQのエンジニアリングチームによるカスタマイズソリューション、工場直販製造、世界規模の技術サポート。

安全性

爆発性雰囲気試験では、チャンバー内に可燃性ガス混合物を導入するため、安全性は後付けではなく作業サイクルに組み込まれています。ガス濃度制御と圧力監視はインテリジェント安全保護層と連動して動作し、PLCコントローラがアラーム管理とシーケンスを制御することで、条件が設定範囲外になった場合に運転を停止してベント処理を行うことができます。チャンバーは使用するガス媒体と濃度に合わせて構成され、試験は供試体に適用される規格またはお客様の手順に従って実施されます。

規格

チャンバーはMIL-STD-810H Method 511、IEC 60079、ATEXおよびカスタマイズされたお客様規格に基づいて設計されています。ガス媒体、濃度範囲、試験シーケンスは、規格と供試体に合わせて設定されます。

チャンバー構成とガス媒体を製品および試験規格に適合させるには、供試体と必要な条件を添えてお問い合わせください。関連製品：高度（低圧）試験槽、熱真空試験槽、カスタム非標準試験槽。

半導体高温オーブン — EUT91 / EUT216 / EUT512 / EUT1000

Mon, 01 Jan 0001 00:00:00 +0000

TestEQ EUTシリーズ高温オーブンは、電気加熱・空気循環式のチャンバーであり、ウェハのベーキングと脱水、部品の乾燥、ポリマーおよびフォトレジストのキュアリング、パッケージのベーキングに使用されます。安定した温度制御と再現性のある熱サイクルが重要な半導体製造、電子機器生産、材料加工の分野で使用されています。

用途

ウェハのベーキングおよびウェハの脱水
フォトレジストおよびポリマーの熱処理
半導体パッケージング：ダイアタッチキュア、エポキシキュア、アンダーフィルキュア
ICパッケージのベーキングおよびモールド後の熱処理
半導体部品の乾燥および除湿
電子部品のベーキングおよびエージング
クリーンな熱処理およびプロセス開発（R&D）

構成と特長

温度範囲は標準でRT～200 °C、オプションで300～500 °Cに対応可能です。
温度変動幅 ≤ ±0.5 °C、温度偏差 ≤ ±2.0 °C。
RTから200 °Cまでの昇温時間は約35分です。
SSR（ソリッドステートリレー）を使用した非接触・等周期パルス幅変調加熱制御。
温度測定にはK型シース熱電対を採用しています。
ワークボリューム全体に均一に熱を分布させる空気循環方式。
多層棚を備えたステンレス鋼製チャンバー構造。
PLCまたはタッチスクリーンコントローラー。データロギング、リモートモニタリング、MES連携はオプションで対応可能です。
安全機能：漏電遮断器、ファン過熱保護、過温度保護、温度ヒューズ、ダクト異常過温度保護。
RT～200 °Cモデルには観察用ガラス窓を装備。200 °C～500 °C仕様には観察用ガラス窓は付属しません。
オプション構成には、窒素不活性オーブン、真空オーブン、クラス100クリーンオーブン、マルチチャンバーオーブン、自動搬送システム、データロギングシステム、MES通信インターフェースがあります。
チャンバー寸法、ウェハキャリア、棚、治具はご要望に応じてカスタマイズ可能です。

仕様

モデルラインナップ

項目	EUT91	EUT216	EUT512	EUT1000
容量（m³）	0.091	0.216	0.512	1.0
内寸 WxHxD（mm）	450x450x450	600x600x600	800x800x800	1000x1000x1000
外寸 WxHxD（mm）	1040x820x635	1190x970x785	1500x1210x1065	1730x1480x1275

共通仕様

項目	値
モデルシリーズ	高温オーブン、EUT
温度範囲	RT～200 °C（300～500 °Cはオプション）
温度変動幅	≤ ±0.5 °C
温度偏差	≤ ±2.0 °C
昇温速度	RT～200 °C、約35分
加熱制御方式	非接触・等周期パルス幅変調、SSR（ソリッドステートリレー）
温度測定	K型シース熱電対
安全機能	漏電遮断器、ファン過熱保護、過温度保護、温度ヒューズ、ダクト異常過温度保護
観察用ガラス窓	RT～200 °C：観察用ガラス窓付き。200 °C～500 °C：観察用ガラス窓なし
電源	AC220V、単相3線、50/60Hz；AC380V、三相5線、50/60Hz

規格

本オーブンは、半導体製造、パッケージング、信頼性認定に関連する熱処理に対応するよう構成できます。適用規格は、具体的なプロセス、製品、お客様の認定要件によって異なります：

標準恒温恒湿試験槽

Mon, 01 Jan 0001 00:00:00 +0000

TestEQの標準恒温恒湿試験槽は、信頼性検証、適合性試験、環境コンディショニングのために制御された温度・湿度条件を再現します。TestEQシリーズにおける汎用プラットフォームであり、キャビネットサイズに加え、ご要望に応じてより大型の構成もご用意できます。

用途

電子機器、PCB実装品、半導体部品
自動車用電気・電子機器
航空宇宙、防衛、通信機器
材料、コーティング、医薬品、包装のコンディショニング
研究機関および第三者試験機関

構成と特長

標準キャビネットモデルの容量は245 L～1000 Lです。
温度範囲は-70 °C～+180 °Cです。
湿度範囲は5 %～98 % RH、露点範囲は7 °C～87 °C、拡張露点条件では-10 °Cまで対応します。
温度変動 ≤ ±0.5 °C、温度偏差 ≤ ±2.0 °C、温度均一性 ≤ 2.0 °Cです。
湿度均一性 ±1.0 % RH、安定した試験条件のための恒温制御 ≤ ±0.3 °Cです。
85 °C / 85 % RHで少なくとも1000時間といった高湿条件がオプションで利用可能であり、40 °C / 75 % RH、55 °C / 10 % RH、65 °C / 95 % RHなどの条件にも対応します。
冷熱バランス制御は加熱と冷却の出力を同時に調整します。TestEQの試験データによると、この方式はエネルギー効率を最大49 %向上させることができます。
監視システムはリアルタイムのデータ追跡、遠隔監視、故障診断を備えています。最大16台の試験槽をネットワーク接続し、モバイル端末から制御できます。
騒音レベル ≤ 68 dBです。

仕様

項目	値
容量	245～1000 L（キャビネット）、より大型はご要望に応じて対応
温度範囲	-70 °C～+180 °C
温度変動	≤ ±0.5 °C
温度偏差	≤ ±2.0 °C
温度均一性	≤ 2.0 °C
湿度範囲	5 %～98 % RH
湿度均一性	±1.0 % RH
恒温制御	≤ ±0.3 °C
露点範囲	7 °C～87 °C（-10 °Cまで拡張可能）
騒音	≤ 68 dB

規格

試験槽は、IEC 60068、MIL-STD-810H、ISO 16750、JESD22に基づく試験プログラム、およびお客様固有の仕様に合わせて構成できます。

複合塩水噴霧試験機 — SSTC / W-STHシリーズ

Mon, 01 Jan 0001 00:00:00 +0000

TestEQ複合塩水噴霧試験機は、塩水噴霧、高湿度、乾燥、およびオプションの温度変化フェーズを1台のプログラマブルキャビネットで実行します。これにより、連続噴霧のみではなく、実際の湿乾サイクルと塩水噴霧サイクルを通じて腐食を進行させることができます。キャビネット型は小型から中型の試験片に対応し、ウォークイン型は車両部品やバッテリー筐体などの大型組立品に対応します。

用途

自動車部品、締結具、シャシー部品、コーティング
EVバッテリー筐体、コネクタ、端子
航空宇宙構造物および表面処理
海洋機器および海洋構造物
塗料、コーティング、金属表面処理
電子機器、コネクタ、めっき

構成と特長

サイクリック腐食：塩水噴霧、湿度、乾燥、およびオプションの温度変化をプログラムされた多段階プロファイルで実行します。
ウォークイン型での試験モード：ACSS、SOAK、DRYAIR、HUMI、ROOMAIR。
連続またはプログラマブル噴霧。
精密ノズルシステムによる均一な塩水噴霧分布。
長時間試験に対応する耐食構造。
塩水濃度5 % NaCl、またはCASS用に5 % NaCl 1リットルあたり0.26 gのCuCl₂·2H₂Oを添加。
圧縮空気圧力1.0～6.0 kgf。
噴霧量1.0～2.0 ml/80 cm²/h（少なくとも16時間の稼働時間における平均値）。
オプションのSO₂腐食モジュール、温度サイクル統合、遠隔監視とデータロギング、CASS用耐酸材料。

仕様

キャビネット型モデル範囲

パラメータ	SSTC-60	SSTC-90	SSTC-120	SSTC-160	SSTC-200
容量 (m³)	0.11	0.27	0.50	0.80	1.50
内寸幅×高さ×奥行 (mm)	600×400×450	900×500×600	1200×500×800	1600×500×800	2000×500×800
外寸幅×高さ×奥行 (mm)	1100×960×760	1400×1200×900	1900×1300×1400	2150×1350×1400	2700×1500×1700
塩水容量 (L)	15	25	40	40	40
重量 (kg)	65	80	120	160	200

ウォークイン型モデル範囲

パラメータ	W-STH-4000	W-STH-5000	W-STH-8000	W-STH-10000	W-STH-12000
容量 (m³)	3.78	5	8	11.5	12
内寸幅×高さ×奥行 (mm)	1500×1800×1400	1700×1800×1600	2000×2000×2000	2600×2000×2200	2000×2000×3000
外寸幅×高さ×奥行 (mm)	1600×2850×2380	1800×2850×2580	2200×3050×2980	2800×3050×3180	2200×3050×4980

共通仕様

パラメータ	値
試験槽温度	NSS/ACSS 35 ± 1 °C；CASS 50 ± 1 °C
圧力バケット温度	NSS/ACSS 47 ± 1 °C；CASS 63 ± 1 °C
塩水濃度	5 % NaCl、または5 % NaCl 1リットルあたり0.26 gのCuCl₂·2H₂O
圧縮空気圧力	1.0～6.0 kgf
噴霧量	1.0～2.0 ml/80 cm²/h（少なくとも16時間の稼働時間、平均値）
噴霧形態	連続またはプログラマブル
ウォークイン型試験モード	ACSS、SOAK、DRYAIR、HUMI、ROOMAIR
ウォークイン型温度範囲	A: RT (+15 °C)～+85 °C；B: -10 °C～+85 °C；C: -20 °C～+85 °C；D: -40 °C～+85 °C；E: -55 °C～+85 °C
ウォークイン型湿度範囲	20 %～98 % RH；除湿器または乾燥機使用時15 %～95 % RH
昇温・降温速度	昇温約0.1～3.0 °C/min；降温約0.3～1.0 °C/min（全行程平均3～10 °C/min、オプション）
解析精度	0.1 °C；0.1 % RH；分布均一性 ±2.0 °C、±5 % RH
制御精度	±0.5 °C；±2.5 °C；2 % RH
電源	AC 220 V、単相3線、50/60 Hz；AC 380 V、三相5線、50/60 Hz

試験槽の寸法および特殊機能はご要望に応じてカスタマイズ可能です。詳細なパラメータと構成については営業チームまでお問い合わせください。

複合環境試験装置（4要素複合）— EQTHシリーズ

Mon, 01 Jan 0001 00:00:00 +0000

TestEQ 4要素複合環境試験装置は、温度・湿度・振動・高度シミュレーションを1つの統合された試験プラットフォームに融合したものです。複合的な気候・機械・減圧条件下で動作または耐性が求められる製品向けに設計されており、単一の公称チャンバー容積ではなく、実際の認定プログラムに基づいて構成されます。

4要素複合チャンバーとは

4要素複合環境試験装置は、温度と湿度を制御しながら、機械的振動と高度（低圧）条件を印加します。4つの環境要因は、4つの個別試験として実施するのではなく、要求される認定シーケンスに従ってプログラムされます。システムには、温度調整、湿度制御、低圧／高度シミュレーション、電磁式振動、カスタマイズされた供試体固定具、環境モニタリング、プログラマブル試験制御などを含めることができます。

4つの環境要因

温度 — チャンバーはプログラムされた試験プロファイルに従って加熱および冷却を制御します。
湿度 — 湿気曝露が認定要件の一部である場合、相対湿度を制御できます。
振動 — 統合または外部結合された振動加振機が、要求される機械的励起を印加します。
高度 — 圧力制御により、高高度条件に対応する減圧された大気圧をシミュレートします。正確な高度範囲は、チャンバー設計と要求される試験手順によって異なります。

高高度および航空宇宙環境で使用される製品は、これらのストレスのうち複数を同時に受ける可能性があります。温度は材料特性と熱膨張に影響し、湿度は腐食と電気絶縁に影響を与える可能性があり、振動は機械的負荷を生じさせ、減圧は熱伝達、シーリング、絶縁、部品の挙動に影響を与える可能性があります。製品仕様が要求する場合、これらを同時に試験することで、より実態に即した認定プログラムが実現します。

用途

温度・湿度・振動・高度条件が変化する環境に曝される航空宇宙およびアビオニクス機器
さまざまな標高および動作環境で使用される自動車および EV 部品
複数の環境ストレス要因が要求される防衛用電子機器
高信頼性電子アセンブリおよび通信機器
熱・湿気・機械・高度の複合要件を持つセンサーおよび複雑な電子アセンブリ

構成と特長

温度・湿度・振動・高度を同時に制御する統合 4-in-1 環境シミュレーションシステム。
多軸振動試験（X/Y/Z 構成可能）。
プログラマブルな環境ストレスプロファイル。
リアルタイム同期制御システム。
長時間試験に対応する高安定性チャンバー構造。
さまざまな業界要件に対応するモジュラー設計。
垂直・水平および用途別の振動統合。選択した電磁式加振機に合わせて設計。
圧力範囲、遷移要件、保持条件は認定プログラムに従って構成。
温度・湿度・圧力・振動パラメータを1つのプログラマブル試験シーケンスとして管理。
チャンバー寸法、アクセス構成、供試体固定具、加振機インターフェース、ケーブル配線、モニタリングは複雑な供試体向けにカスタマイズ可能。

仕様

機種ラインナップ

モデル	容量（m³）	内寸幅×高さ×奥行（mm）	外寸幅×高さ×奥行（mm）
EQTH-05	0.5	800×800×800	1950×1900×3950
EQTH-12	1.2	1050×1000×1150	2250×2100×4350
EQTH-20	2	1200×1200×1400	2120×2150×4500
EQTH-30	3	1400×1350×1600	2300×2000×5350
EQTH-50	5	1600×1600×1800	2300×2280×5350
EQTH-60	6	1900×1600×2200	2900×2300×5500
EQTH-90	9	2000×2000×2300	2400×2600×6620 または 3060×2900×5500
EQTH-100	10	2200×2000×2600	2600×2650×6300 または 3260×2900×5800

注記：上記の外寸は、振動試験装置の高さを含みません。振動加振機のテーブル寸法には 640×640 mm が含まれ、その他のサイズは選択した加振機に応じてカスタマイズされます。