Kebuk Alam Sekitar Meja

Kebuk alam sekitar meja TestEQ ialah kebuk padat untuk mendedahkan produk kecil, komponen, bahan dan pemasangan kepada keadaan suhu dan kelembapan yang terkawal. Ia bertujuan untuk ujian peringkat komponen di mana ruang makmal dan isipadu ujian adalah terhad.

Aplikasi

  • Kebolehpercayaan komponen dan pengesahan produk peringkat awal
  • Elektronik, PCB, sensor dan pemasangan kecil
  • Haba lembap dan penuaan dipercepat
  • Pengkondisian bahan dan ketahanan alam sekitar
  • Makmal kawalan kualiti dan penyelidikan universiti

Konfigurasi dan ciri

  • Konfigurasi padat 22.5 L dan 64 L untuk meja dan kawasan kerja kecil.
  • Julat suhu -65 °C hingga +150 °C.
  • Turun naik suhu ≤ ±0.5 °C; sisihan suhu ≤ ±2.0 °C.
  • Julat kelembapan 5 % hingga 98 % RH; sisihan kelembapan ±3.0 % RH (melebihi 75 % RH).
  • Profil suhu dan kelembapan berbilang langkah yang boleh diprogramkan untuk kitaran ujian yang boleh diulang.
  • Tahap bunyi ≤ 68 dB.
  • Pilihan yang boleh dikonfigurasikan termasuk port akses, pintu dalam, rakaman data, penulenan air, lekapan sampel tersuai dan konfigurasi elektrik khusus negara.

Spesifikasi

Julat model (siri MITH)

ParameterMITH-270A20MITH-270A40MITH-270A60MITH-640A20MITH-640A40MITH-640A60
Kapasiti0.0225 m³0.0225 m³0.0225 m³0.064 m³0.064 m³0.064 m³
Dimensi dalaman L×T×D300×300×250 mm300×300×250 mm300×300×250 mm400×400×400 mm400×400×400 mm400×400×400 mm
Dimensi luaran L×T×D550×850×900 mm550×850×900 mm550×850×900 mm1300×1150×1000 mm1300×1150×1000 mm1300×1150×1000 mm
Julat suhu-20 °C hingga +100 °C-40 °C hingga +100 °C-60 °C hingga +100 °C-20 °C hingga +100 °C-40 °C hingga +100 °C-65 °C hingga +100 °C

Spesifikasi umum

ParameterNilai
Kapasiti22.5 L dan 64 L
Julat suhu-65 °C hingga +150 °C
Turun naik suhu≤ ±0.5 °C
Sisihan suhu≤ ±2.0 °C
Julat kelembapan20 % hingga 98 % RH (5 % RH pilihan)
Sisihan kelembapan±3.0 % RH (melebihi 75 % RH); ±5.0 % RH (≤ 75 % RH)
Bunyi≤ 68 dB
Aksesori pilihanPintu dalam dengan lubang operasi, perakam, penulen air, dll
KuasaAC 220 V, 1-fasa, 3-wayar, 50/60 Hz

Piawaian

Kebuk meja boleh digunakan untuk program ujian berdasarkan IEC 60068, MIL-STD-810, ISO 16750, ASTM D4332 dan prosedur ujian ISTA yang berkenaan.

Untuk komponen yang memerlukan isipadu lebih besar atau daya pengeluaran lebih tinggi, kebuk berdiri lantai atau kebuk boleh masuk mungkin lebih sesuai. Untuk mengesahkan konfigurasi, hubungi kami dengan saiz spesimen dan keadaan yang diperlukan.

Beritahu kami piawaian ujian dan spesimen

Hantar piawaian ujian, saiz dan haba spesimen, julat suhu atau tekanan. Jurutera kami akan mencadangkan konfigurasi kebuk yang sesuai.