Ruang perubahan suhu pantas siri EATH TestEQ menggunakan tanjakan suhu linear terkawal pada produk untuk mempercepat keletihan terma dan mendedahkan mekanisme kegagalan berkaitan suhu. Ia bertujuan untuk kitaran terma di mana kadar peralihan, keseragaman dan kebolehulangan adalah kritikal.
Aplikasi
- Kebolehpercayaan dan kitaran terma semikonduktor dan IC
- Pemasangan PCB, sambungan pateri dan antara sambungan
- Elektronik automotif dan modul kuasa EV
- Peralatan aeroangkasa dan komunikasi
- Sel dan modul bateri
- Bahan dan salutan
Konfigurasi dan ciri
- Julat suhu -70 °C hingga +180 °C (200 °C pilihan).
- Kadar tanjakan suhu linear dari 5 °C/min hingga 30 °C/min; kadar biasa ialah 5, 10, 15, 20 dan 25 °C/min, dengan sehingga 30 °C/min tersedia untuk konfigurasi terpilih.
- Julat ujian popular -40 °C hingga +85 °C.
- Turun naik suhu ≤ ±0.5 °C; sisihan suhu ≤ ±2.0 °C; keseragaman suhu ≤ 2.0 °C.
- Keseragaman suhu dan kestabilan kawalan dikekalkan pada kadar tanjakan tinggi.
- Peredaran udara direka untuk mengekalkan keseragaman suhu dan kadar spesimen menerima suhu yang diprogramkan secara konsisten.
- Reka bentuk aliran udara “Cold Fusion” penyejukan udara.
- Bekalan air pam; tingkap L×T 380×520 mm.
- Kawalan PID dengan profil boleh diprogram dan komunikasi RS-485.
- Pilihan termasuk peningkatan kadar tanjakan tinggi (≥ 30 °C/min).
- No. Paten: CN201920954255.X.
Spesifikasi
Julat model (siri EATH)
| Model | Kapasiti (m³) | Dalaman L×T×D (mm) |
|---|---|---|
| EATH800-40W5 / EATH800-40W10 / EATH800-40W15 | 0.8 | 1000×1000×800 |
| EATH800-55W5 / EATH800-55W10 / EATH800-55W15 | 0.8 | 1000×1000×800 |
| EATH1000-40W5 / EATH1000-40W10 / EATH1000-40W15 | 1.0 | 1000×1000×1000 |
| EATH1000-55W5 / EATH1000-55W10 / EATH1000-55W15 | 1.0 | 1000×1000×1000 |
Akhiran selepas W menunjukkan kadar tanjakan yang dikonfigurasikan (W5 = 5 °C/min, W10 = 10 °C/min, W15 = 15 °C/min). Dimensi luaran berbeza mengikut konfigurasi kadar dipercepat dan julat suhu; sumber menyenaraikan nilai luaran L×T×D 1200×900×2670, 1200×930×2870, 1200×900×1970 dan 1200×1900×2870 mm merentas julat EATH800 / EATH1000.
Spesifikasi umum
| Parameter | Nilai |
|---|---|
| Julat suhu | -70 °C hingga +180 °C (200 °C pilihan) |
| Kadar tanjakan (linear) | 5–30 °C/min |
| Kadar biasa | 5 / 10 / 15 / 20 / 25 °C/min |
| Julat tipikal | -40 °C hingga +85 °C |
| Turun naik suhu | ≤ ±0.5 °C |
| Sisihan suhu | ≤ ±2.0 °C |
| Keseragaman suhu | ≤ 2.0 °C |
| Aliran udara (Cold Fusion) | 200 L/Saat / 800 L/Saat (mengikut konfigurasi) |
| Tingkap L×T (mm) | 380×520 |
| Julat kelembapan (%RH) | 10–98 %RH |
| Keseragaman kelembapan | ±1.0 %RH |
| Sisihan kelembapan relatif | ≤ +2.0 hingga −3 %RH (>75 %RH); ≤ ±5.0 %RH (≤75 %RH) |
| Bekalan air | bekalan pam |
| Kawalan | PID, profil boleh diprogram, RS-485 |
| Bunyi | ≤ 68 dB |
| Kuasa | AC380V, 3 fasa 5 wayar, 50/60 Hz |
| No. Paten | CN201920954255.X |
Penunjuk kelembapan terpakai untuk ruang yang dikonfigurasikan dengan kelembapan. Prestasi sebenar bergantung pada saiz ruang, julat suhu, jisim spesimen, reka bentuk lekapan dan keadaan ujian; prestasi kadar tanjakan perlu dinilai di bawah beban ujian yang dimaksudkan.
Piawaian
Ruang boleh dikonfigurasikan untuk program ujian berdasarkan IEC 60068-2-14, IEC 60068-3-5, JEDEC JESD22-A104, MIL-STD-810, AEC-Q100, ISO 16750 dan RTCA DO-160.
Untuk memadankan kadar tanjakan dengan profil ujian, hubungi kami dengan julat, kadar dan spesimen yang diperlukan. Berkaitan: Ruang Ujian Kejutan Terma , Ruang Ujian Suhu Kelembapan Getaran .