Kebuk ujian suhu dan kelembapan siri ETH TestEQ menghasilkan semula keadaan suhu dan kelembapan terkawal untuk ujian kebolehpercayaan komponen, pemasangan dan bahan. Siri ini menggunakan pemampat khusus aplikasi dari 0.8 hingga 8 HP dan sistem peredaran udara yang dioptimumkan.
Aplikasi
- Elektronik dan pemasangan PCB: haba lembap, pendedahan suhu dan kelembapan
- Semikonduktor dan komponen elektronik
- Komponen automotif dan EV
- Peralatan aeroangkasa dan pertahanan
- Bateri dan elektronik kuasa
- Bahan, salutan dan pelekat
Konfigurasi kebuk
- Model kabinet dari 245 L hingga 1000 L; sistem suhu-kelembapan walk-in besar boleh disesuaikan sehingga 4500 m³.
- Julat suhu -40 °C hingga +180 °C atau -70 °C hingga +180 °C, bergantung pada model.
- Julat kelembapan 10 % hingga 98 % RH (5 % hingga 98 % RH pilihan), dengan bekalan air pam.
- Kawalan suhu malar ≤ ±0.3 °C untuk ujian kestabilan.
- Julat suhu takat embun 7 °C hingga 87 °C; keadaan takat embun lanjutan -10 °C.
- Pemampat khusus aplikasi dari 0.8 hingga 8 HP memberikan kadar perubahan suhu produk yang pantas; peralihan lebih pantas memendekkan kitaran ujian.
- Peredaran udara yang dioptimumkan meningkatkan kecerunan suhu, ketepatan kawalan dan kebolehpercayaan.
- Pengawal skrin sentuh warna 7" dengan mod program (20 program, sehingga 50 langkah setiap satu, sehingga 20 gelung) dan mod nilai tetap; komunikasi tempatan dan jauh RS-485, sehingga 16 kebuk disambungkan dengan panjang kabel keseluruhan maksimum 800 m.
- Perlindungan lebih suhu, perlindungan kegagalan kuasa, had suhu atas/bawah, mula/henti berjadual dan diagnosis kendiri.
- Bunyi ≤ 68 dB.
Spesifikasi (siri ETH)
| Parameter | ETH225-40 | ETH225-70 | ETH408-40 | ETH408-70 | ETH1000-40 | ETH1000-70 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Kapasiti (m³ / L) | 0.245 / 245 | 0.245 / 245 | 0.408 / 408 | 0.408 / 408 | 1.0 / 1000 | 1.0 / 1000 |
| Dalaman L×T×D (mm) | 700×700×500 | 700×700×500 | 700×800×730 | 700×800×730 | 1000×1000×1000 | 1000×1000×1000 |
| Luaran L×T×D (mm) | 900×1680×1300 | 900×1680×1300 | 900×1780×1500 | 900×1780×1500 | 1200×1980×1700 | 1200×1980×1700 |
| Julat suhu | -40 hingga +180 °C | -70 hingga +180 °C | -40 hingga +180 °C | -70 hingga +180 °C | -40 hingga +180 °C | -70 hingga +180 °C |
| Turun naik suhu | ≤ ±0.5 °C | ≤ ±0.5 °C | ≤ ±0.5 °C | ≤ ±0.5 °C | ≤ ±0.5 °C | ≤ ±0.5 °C |
| Sisihan suhu | ≤ ±2.0 °C | ≤ ±2.0 °C | ≤ ±2.0 °C | ≤ ±2.0 °C | ≤ ±2.0 °C | ≤ ±2.0 °C |
| Keseragaman suhu | ≤ 2.0 °C | ≤ 2.0 °C | ≤ 2.0 °C | ≤ 2.0 °C | ≤ 2.0 °C | ≤ 2.0 °C |
| Penyejukan +25 → -20 °C (min) | 30 | 18 | 30 | 18 | 30 | 19 |
| Penyejukan +25 → -40 °C (min) | 60 | 35 | 60 | 32 | 60 | 32 |
| Penyejukan +25 → -70 °C (min) | — | 80 | — | 80 | — | 80 |
| Pemanasan -25 → +150 °C (min) | 56 | 56 | 56 | 56 | 56 | 56 |
| Pemanasan -40 → +85 °C (min) | 50 | 50 | 50 | 50 | 50 | 50 |
| Pemanasan -70 → +85 °C (min) | — | 60 | — | 60 | — | 60 |
| Julat kelembapan (%RH) | 10–98 %RH | 10–98 %RH | 10–98 %RH | 10–98 %RH | 10–98 %RH | 10–98 %RH |
| Keseragaman kelembapan | ±1.0 %RH | ±1.0 %RH | ±1.0 %RH | ±1.0 %RH | ±1.0 %RH | ±1.0 %RH |
| Sisihan kelembapan relatif | ≤ +2.0 hingga −3 %RH (>75 %RH) / ≤ ±5.0 %RH (≤75 %RH) | seperti kiri | seperti kiri | seperti kiri | seperti kiri | seperti kiri |
| Arus terkadar (A) | 12 | 15 | 14 | 21 | 25 | 38 |
| Kuasa terkadar (kW) | 6 | 8 | 7 | 10 | 12 | 18 |
| Bekalan kuasa | AC380V, 3 fasa 5 wayar, 50/60 Hz |
Masa penyejukan/pemanasan adalah untuk kebuk kosong. Penunjuk kelembapan terpakai untuk kebuk yang dikonfigurasikan kelembapan; 5 % hingga 98 % RH adalah keadaan pilihan. Pilihan kelembapan tinggi termasuk 85 °C / 85 %RH selama sekurang-kurangnya 1000 jam, 40 °C / 75 %RH, 55 °C / 10 %RH dan 65 °C / 95 %RH. Prestasi diukur pada 50 Hz dan keadaan makmal 23.9 °C. Kebuk ini tidak bertujuan untuk item ujian yang mudah terbakar, meletup atau menghakis, atau untuk sampel biologi.
Standard
Kebuk boleh dikonfigurasikan untuk program ujian berdasarkan keperluan IEC 60068, JEDEC JESD22, MIL-STD-810 dan ISO 16750.
Untuk kebuk yang dikonfigurasikan kepada julat suhu, keadaan kelembapan atau standard ujian tertentu, hubungi kami dengan dimensi spesimen dan profil yang diperlukan. Berkaitan: Kebuk Ujian Kejutan Terma , Kebuk Perubahan Suhu Pantas .