Испытания HAST и PCT по IEC 60068-2-66: условия, процедура и камера

IEC 60068-2-66 определяет испытание на влажное тепло с ускорением давлением, применяемое для оценки влагостойкости негерметичных электронных компонентов при высокой температуре, высокой влажности и в среде пара под давлением. Это environmental method, лежащий в основе HAST (Highly Accelerated Stress Test), который ускоряет проникновение влаги, благодаря чему отказы надёжности проявляются за более короткий период испытания, чем при обычном испытании на влажность.

Что проверяет метод

Образец подвергается воздействию повышенной температуры, высокой влажности и повышенного давления в ненасыщенном паре под давлением. Цель — выявить отказы, связанные с влагой, до начала массового производства. Типовые температуры испытания составляют от 110 °C до 130 °C.

Метод применяется к полупроводниковым компонентам, корпусам ИС, электронным сборкам, изделиям на печатных платах, автомобильной электронике, аэрокосмическим электронным системам и высоконадёжным промышленным устройствам.

Цели по областям применения

Условия испытания

Точная жёсткость зависит от типа корпуса, условий эксплуатации, ожидаемого срока службы изделия и отраслевых требований к квалификации.

Процедура испытания

1. Подготовка образцов – компоненты или сборки подготовлены согласно требованиям испытания.
2. Входной контроль – регистрируются электрические характеристики, внешний вид и функциональные свойства.
3. Воздействие HAST – образцы помещаются в камеру, которая контролирует температуру, влажность и давление для создания ускоренных условий влажности.
4. Оценка после испытания – проверка на коррозию, расслоение, электрическую деградацию, повреждение материалов и функциональный отказ.

Жёсткость задаётся температурой испытания, уровнем влажности, условиями давления, продолжительностью воздействия и требованиями к надёжности изделия.

HAST, PCT и родственные методы

IEC 60068-2-66 ориентирован на экологическую надёжность с использованием ускоренного влажного тепла. JESD22-A110 применяется производителями полупроводников для квалификации компонентов. PCT использует условия насыщенного пара. Для надёжности полупроводников IEC 60068-2-66 и JESD22-A110 часто упоминаются вместе.

Выявляемые виды отказов

• Проникновение влаги – водяной пар проникает в структуры компонентов и ухудшает характеристики.
• Коррозия – ускоренное поражение металлических соединений и электронных структур.
• Расслоение корпуса – разделение упаковочных материалов под воздействием влаги.
• Деградация сопротивления изоляции – снижение электрических изоляционных характеристик.
• Электрический отказ – нарушение работы устройства после длительного воздействия влаги.

Как выбрать камеру HAST

• Точность контроля температуры, давления и влажности – стабильное управление всеми тремя параметрами для воспроизводимости результатов.
• Защита безопасности – защита от избыточного давления, защита от перегрева, автоматический контроль и система аварийного сброса давления.
• Испытательная вместимость – размер камеры, соответствующий количеству образцов, габаритам изделия и рабочему процессу лаборатории.
• Соответствие требованиям – поддержка IEC 60068-2-66, JESD22-A110 и требований к надёжности полупроводников.

Какая камера

HAST и PCT проводятся в камере с контролем температуры и давления. Если программе требуется только влажное тепло при атмосферном давлении, это обеспечивает камера испытаний температуры и влажности . Если образец крупногабаритный или профиль нестандартный, камера испытаний по индивидуальному заказу конфигурируется под требуемый диапазон влажности, давления и температуры. О родственных методах влажного тепла см. обзор серии IEC 60068 .

Свяжитесь с нами , указав требуемые условия температуры, влажности и давления, а также размер образца.