TestEQ EQ-PCT 系列將 HAST（高加速應力試驗）與 PCT（高壓蒸煮試驗）整合於同一壓力試驗箱中。透過對溫度、濕度和壓力進行控制，加速非氣密性電子元件和半導體封裝中與濕氣相關的失效機制，使原本需要在 85 °C / 85 % RH 條件下運行數週的鑑定工作可在更短的試驗週期內完成。
應用
- 半導體封裝與積體電路
- 非氣密性電子元件與元件
- PCB 組件與互連結構
- 車用電子與 LED 元件
- 可靠性鑑定與失效分析實驗室
配置與特點
- 蒸汽溫度範圍 +110 °C 至 +135 °C。
- 濕度：100 % RH 飽和蒸汽，或 70 % 至 100 % RH 可調蒸汽濕度。
- 水蒸氣自然對流循環。
- 壓力範圍 0 至 +2 kg/cm²，工作範圍 0 至 +3 kg/cm²。
- 試驗時間 0 至 999 小時，可程式化。
- 空載條件下 0.00 → 2.00 kg/cm² 約需 30 min。
- 箱內空氣溫度從環境溫度升至 132 °C 約需 30 min。
- 雙模式水管理：自動或手動補水，自動洩壓。
- 低水位切斷保護與超壓聯鎖。
- 支援帶偏壓或不帶偏壓的 HAST 配置，可配電氣負載、客製夾具、壓力控制與資料監測。
技術規格
型號範圍
| 參數 | EQ-PCT-18 | EQ-PCT-48 | EQ-PCT-88 | EQ-PCT-199 |
|---|---|---|---|---|
| 內箱容積 (m³) | 0.018 | 0.048 | 0.088 | 0.199 |
| 內箱尺寸 Ø×D (mm) | Ø300×250 | Ø450×300 | Ø500×450 | Ø650×600 |
| 外箱尺寸 W×H×D (mm) | 500×500×700 | 580×850×650 | 800×750×900 | 950×900×1100 |
通用規格
| 參數 | 數值 |
|---|---|
| 蒸汽溫度範圍 | +110 °C 至 +135 °C |
| 溫度波動度 | ≤ ±0.5 °C |
| 溫度均勻度 | ≤ 1.5 °C |
| 濕度範圍 | 100 % RH 飽和蒸汽；70 % 至 100 % RH 可調蒸汽濕度 |
| 濕度均勻度 | ±1.5 % RH；±3.0 % RH |
| 壓力範圍 | 0 至 +2 kg/cm²（工作範圍 0 至 +3 kg/cm²） |
| 絕對壓力範圍 | 1.0–3.0 kg/cm² |
| 安全耐壓能力 | 4 kg/cm²（1 個大氣壓 + 3 kg/cm² 表壓） |
| 循環方式 | 水蒸氣自然對流 |
| 試驗時間設定 | 0–999 小時，可程式化 |
| 升壓時間 | 0.00 → 2.00 kg/cm² 約 30 min（空載） |
| 升溫速率 | 環境溫度 → 132 °C 約 30 min（箱內空氣溫度） |
| 電源 | AC 220 V，單相三線，50/60 Hz；AC 380 V，三相五線，50/60 Hz |
實際試驗條件根據適用標準、產品鑑定要求和樣品配置設定。箱體容積、夾具、電氣偏壓、水管理和實驗室整合均可客製。
標準
試驗箱依據 JESD22-A110、JESD22-A102 和 IEC 60068-2-66 設計。根據鑑定專案要求，系統還可整合至涉及 AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q200、MIL-STD-202 和 MIL-STD-750 或客戶特定要求的工作中。
如需根據樣品數量、試驗溫度、濕度模式和壓力等級選擇 HAST 或 PCT 配置，請將待測元件及適用試驗標準聯絡我們 。相關產品：溫度濕度試驗箱 、冷熱衝擊試驗箱 、ESS 試驗箱 、高壓試驗箱 。