TestEQ EATH 系列快速溫度變化試驗箱對產品施加可控的線性溫度變化，以加速熱疲勞並暴露與溫度相關的失效機制。適用於對轉換速率、均勻性和重複性要求嚴格的溫度循環測試。
應用
- 半導體與 IC 可靠性及溫度循環
- PCB 組件、焊點和互連結構
- 車用電子與電動車功率模組
- 航太與通訊設備
- 電芯與電池模組
- 材料與塗層
配置與特點
- 溫度範圍 -70 °C 至 +180 °C（可選 200 °C）。
- 線性升降溫速率 5 °C/min 至 30 °C/min；常用速率為 5、10、15、20 和 25 °C/min，部分配置最高可達 30 °C/min。
- 常用測試範圍 -40 °C 至 +85 °C。
- 溫度波動度 ≤ ±0.5 °C；溫度偏差 ≤ ±2.0 °C；溫度均勻度 ≤ 2.0 °C。
- 在高升降溫速率下仍保持溫度均勻性與控制穩定性。
- 氣流循環設計旨在保持溫度均勻性以及試樣感受到的程式化溫度變化速率的一致性。
- 氣冷「Cold Fusion」氣流設計。
- 泵浦供水；觀察窗 W×H 380×520 mm。
- PID 控制，可程式化曲線，RS-485 通訊。
- 選配包括高升降溫速率升級（≥ 30 °C/min）。
- 專利號：CN201920954255.X。
技術規格
型號範圍（EATH 系列）
| 型號 | 容積（m³） | 內箱 W×H×D（mm） |
|---|---|---|
| EATH800-40W5 / EATH800-40W10 / EATH800-40W15 | 0.8 | 1000×1000×800 |
| EATH800-55W5 / EATH800-55W10 / EATH800-55W15 | 0.8 | 1000×1000×800 |
| EATH1000-40W5 / EATH1000-40W10 / EATH1000-40W15 | 1.0 | 1000×1000×1000 |
| EATH1000-55W5 / EATH1000-55W10 / EATH1000-55W15 | 1.0 | 1000×1000×1000 |
W 後的後綴表示所配置的升降溫速率（W5 = 5 °C/min，W10 = 10 °C/min，W15 = 15 °C/min）。外箱尺寸隨加速速率與溫度範圍配置而變化；原始資料列出 EATH800 / EATH1000 系列的外箱 W×H×D 值分別為 1200×900×2670、1200×930×2870、1200×900×1970 和 1200×1900×2870 mm。
一般規格
| 參數 | 數值 |
|---|---|
| 溫度範圍 | -70 °C 至 +180 °C（可選 200 °C） |
| 升降溫速率（線性） | 5–30 °C/min |
| 常用速率 | 5 / 10 / 15 / 20 / 25 °C/min |
| 典型範圍 | -40 °C 至 +85 °C |
| 溫度波動度 | ≤ ±0.5 °C |
| 溫度偏差 | ≤ ±2.0 °C |
| 溫度均勻度 | ≤ 2.0 °C |
| 氣流（Cold Fusion） | 200 L/Sec / 800 L/Sec（視配置而定） |
| 觀察窗 W×H（mm） | 380×520 |
| 濕度範圍（%RH） | 10–98 %RH |
| 濕度均勻度 | ±1.0 %RH |
| 相對濕度偏差 | ≤ +2.0 至 −3 %RH（>75 %RH）；≤ ±5.0 %RH（≤75 %RH） |
| 供水 | 泵浦供水 |
| 控制 | PID，可程式化曲線，RS-485 |
| 噪音 | ≤ 68 dB |
| 電源 | AC380V，三相五線，50/60 Hz |
| 專利號 | CN201920954255.X |
濕度指標適用於配置濕度的試驗箱。實際性能取決於箱體尺寸、溫度範圍、試樣質量、夾具設計和測試條件；升降溫速率性能應在預期測試負載下進行評估。
標準
試驗箱可依據 IEC 60068-2-14、IEC 60068-3-5、JEDEC JESD22-A104、MIL-STD-810、AEC-Q100、ISO 16750 和 RTCA DO-160 配置測試程序。
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