IEC 60068-2-39 與 2-40：溫度、濕度與低氣壓綜合試驗

IEC 60068-2-39:2015 規定了溫度或溫度濕度與低氣壓綜合的試驗和導則。它不是等效海拔高度壓力試驗。試驗期間將試樣保持在某一溫度，或某一溫度和濕度下，同時將試驗箱壓力降至規定的低氣壓條件，其目的是暴露溫度、濕度或壓力單獨作用所不能產生的效應。

IEC 60068-2-39 涵蓋的內容

2015 版的標題為環境試驗——第 2-39 部分：試驗——試驗和導則：溫度或溫度濕度與低氣壓綜合試驗。該試驗用於確定設備或元器件在綜合應力下是否出現電氣、機械、物理或功能變化。

它適用於航空航天電子、航空電子、國防裝備、電子組件、汽車電子以及用於低氣壓工作環境的通訊設備。

2-39、2-40 與 2-41 系列

這些是相關的綜合方法，各自將低氣壓與不同的熱條件組合：

• IEC 60068-2-39 —— 溫度，或溫度與濕度，與低氣壓組合。
• IEC 60068-2-40 —— 低溫與低氣壓組合。
• IEC 60068-2-41 —— 乾熱與低氣壓組合。

選用哪一部分取決於產品規範所要求的應力。對於多標準試驗程序，試驗箱應針對整個試驗矩陣而非單一標準進行配置。

試驗 Z/AMD 與優選條件

IEC 60068-2-39:2015 與用於綜合環境試驗的試驗 Z/AMD 方法相關。它給出了溫度、低氣壓、適用時的濕度以及暴露時間的優選組合。實際採用的嚴酷等級從適用的 IEC 60068 要求和產品規範中選取。

試驗條件與失效機理

環境條件為溫度加低氣壓，或溫度加濕度加低氣壓。潛在的失效機理包括電氣絕緣劣化、密封件或外殼洩漏、機械變形、材料性能變化、電氣性能變化、減壓下的功能不穩定以及綜合暴露後的失效。

試驗程序

1. 試樣準備。 按產品規範安裝試樣，不包裝，按需要處於工作或非工作狀態。
2. 溫度穩定。 將試驗箱調至規定溫度，讓試樣在進入低氣壓階段前達到穩定。適用順序期間溫度變化速率不超過 1 K/min。
3. 降低氣壓。 將試驗箱壓力降至規定條件。適用程序中壓力變化速率不超過 15 kPa/min。
4. 綜合暴露。 在規定的持續時間內保持所要求的溫度和低氣壓條件，適用時控制濕度。暴露時間從低氣壓下的溫度穩定時刻起算。
5. 中間測量。 對於工作狀態試樣，監測試驗箱壓力、溫度、適用時的濕度、工作狀態、電氣參數和功能性能。
6. 壓力恢復。 在適用的恢復要求內將壓力恢復至接近常壓。
7. 溫度恢復與最終評定。 使試樣留在試驗箱內直至達到恢復條件，然後將最終電氣、機械、尺寸或功能測量結果與初始狀態進行比較。

試驗箱要求

用於 2-39 的試驗箱應根據完整試驗剖面來規定，而不能僅依據溫度範圍。

TestEQ 低氣壓系統通常配置的壓力調節範圍約為 5 kPa 至 100 kPa，最終數值由所需試驗剖面和試驗箱配置決定。採購時應明確最低壓力、常壓、壓力控制精度、壓力變化與恢復速率、暴露時間、溫度範圍、適用時的濕度範圍、試樣體積與負載以及工作狀態。

2-39 與海拔試驗箱的對比

當僅需海拔或低氣壓模擬時，海拔試驗箱 是合適的選擇。當試驗程序將溫度，或溫度與濕度，與低氣壓組合在一起時，應按完整的 IEC 60068-2-39 順序來規定試驗箱。

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