TestEQ EQ-PCT 系列将 HAST（高加速应力试验）与 PCT（高压蒸煮试验）集成于同一压力试验箱中。通过对温度、湿度和压力进行控制，加速非气密性电子元件和半导体封装中与湿气相关的失效机理，使原本需要在 85 °C / 85 % RH 条件下运行数周的鉴定工作可在更短的试验周期内完成。
应用
- 半导体封装与集成电路
- 非气密性电子元件与器件
- PCB 组件与互连结构
- 汽车电子与 LED 器件
- 可靠性鉴定与失效分析实验室
配置与特点
- 蒸汽温度范围 +110 °C 至 +135 °C。
- 湿度：100 % RH 饱和蒸汽，或 70 % 至 100 % RH 可调蒸汽湿度。
- 水蒸气自然对流循环。
- 压力范围 0 至 +2 kg/cm²，工作范围 0 至 +3 kg/cm²。
- 试验时间 0 至 999 小时，可编程。
- 空载条件下 0.00 → 2.00 kg/cm² 约需 30 min。
- 箱内空气温度从环境温度升至 132 °C 约需 30 min。
- 双模式水管理：自动或手动补水，自动泄压。
- 低水位切断保护与超压联锁。
- 支持带偏压或不带偏压的 HAST 配置，可配电气加载、定制夹具、压力控制与数据监测。
技术规格
型号范围
| 参数 | EQ-PCT-18 | EQ-PCT-48 | EQ-PCT-88 | EQ-PCT-199 |
|---|---|---|---|---|
| 内箱容积 (m³) | 0.018 | 0.048 | 0.088 | 0.199 |
| 内箱尺寸 Ø×D (mm) | Ø300×250 | Ø450×300 | Ø500×450 | Ø650×600 |
| 外箱尺寸 W×H×D (mm) | 500×500×700 | 580×850×650 | 800×750×900 | 950×900×1100 |
通用规格
| 参数 | 数值 |
|---|---|
| 蒸汽温度范围 | +110 °C 至 +135 °C |
| 温度波动度 | ≤ ±0.5 °C |
| 温度均匀度 | ≤ 1.5 °C |
| 湿度范围 | 100 % RH 饱和蒸汽；70 % 至 100 % RH 可调蒸汽湿度 |
| 湿度均匀度 | ±1.5 % RH；±3.0 % RH |
| 压力范围 | 0 至 +2 kg/cm²（工作范围 0 至 +3 kg/cm²） |
| 绝对压力范围 | 1.0–3.0 kg/cm² |
| 安全耐压能力 | 4 kg/cm²（1 个大气压 + 3 kg/cm² 表压） |
| 循环方式 | 水蒸气自然对流 |
| 试验时间设定 | 0–999 小时，可编程 |
| 升压时间 | 0.00 → 2.00 kg/cm² 约 30 min（空载） |
| 升温速率 | 环境温度 → 132 °C 约 30 min（箱内空气温度） |
| 电源 | AC 220 V，单相三线，50/60 Hz；AC 380 V，三相五线，50/60 Hz |
实际试验条件根据适用标准、产品鉴定要求和样品配置设定。箱体容积、夹具、电气偏压、水管理和实验室集成均可定制。
标准
试验箱依据 JESD22-A110、JESD22-A102 和 IEC 60068-2-66 设计。根据鉴定项目要求，系统还可集成至涉及 AEC-Q100、AEC-Q101、AEC-Q200、MIL-STD-202 和 MIL-STD-750 或客户特定要求的工作中。
如需根据样品数量、试验温度、湿度模式和压力等级选择 HAST 或 PCT 配置，请将待测元件及适用试验标准联系我们 。相关产品：温度湿度试验箱 、冷热冲击试验箱 、ESS 试验箱 、高压试验箱 。