TestEQ EATH 系列快速温度变化试验箱对产品施加可控的线性温度变化，以加速热疲劳并暴露与温度相关的失效机理。适用于对转换速率、均匀性和重复性要求严格的温度循环测试。
应用
- 半导体与 IC 可靠性及温度循环
- PCB 组件、焊点和互连结构
- 汽车电子与电动汽车功率模块
- 航空航天与通信设备
- 电芯与电池模组
- 材料与涂层
配置与特点
- 温度范围 -70 °C 至 +180 °C（可选 200 °C）。
- 线性升降温速率 5 °C/min 至 30 °C/min；常用速率为 5、10、15、20 和 25 °C/min，部分配置最高可达 30 °C/min。
- 常用测试范围 -40 °C 至 +85 °C。
- 温度波动度 ≤ ±0.5 °C；温度偏差 ≤ ±2.0 °C；温度均匀度 ≤ 2.0 °C。
- 在高升降温速率下仍保持温度均匀性与控制稳定性。
- 气流循环设计旨在保持温度均匀性以及试样感受到的编程温度变化速率的一致性。
- 风冷"Cold Fusion"气流设计。
- 泵供水；观察窗 W×H 380×520 mm。
- PID 控制，可编程曲线，RS-485 通信。
- 选配包括高升降温速率升级（≥ 30 °C/min）。
- 专利号：CN201920954255.X。
技术规格
型号范围（EATH 系列）
| 型号 | 容积（m³） | 内箱 W×H×D（mm） |
|---|---|---|
| EATH800-40W5 / EATH800-40W10 / EATH800-40W15 | 0.8 | 1000×1000×800 |
| EATH800-55W5 / EATH800-55W10 / EATH800-55W15 | 0.8 | 1000×1000×800 |
| EATH1000-40W5 / EATH1000-40W10 / EATH1000-40W15 | 1.0 | 1000×1000×1000 |
| EATH1000-55W5 / EATH1000-55W10 / EATH1000-55W15 | 1.0 | 1000×1000×1000 |
W 后的后缀表示所配置的升降温速率（W5 = 5 °C/min，W10 = 10 °C/min，W15 = 15 °C/min）。外箱尺寸随加速速率与温度范围配置而变化；原始资料列出 EATH800 / EATH1000 系列的外箱 W×H×D 值分别为 1200×900×2670、1200×930×2870、1200×900×1970 和 1200×1900×2870 mm。
通用规格
| 参数 | 数值 |
|---|---|
| 温度范围 | -70 °C 至 +180 °C（可选 200 °C） |
| 升降温速率（线性） | 5–30 °C/min |
| 常用速率 | 5 / 10 / 15 / 20 / 25 °C/min |
| 典型范围 | -40 °C 至 +85 °C |
| 温度波动度 | ≤ ±0.5 °C |
| 温度偏差 | ≤ ±2.0 °C |
| 温度均匀度 | ≤ 2.0 °C |
| 气流（Cold Fusion） | 200 L/Sec / 800 L/Sec（视配置而定） |
| 观察窗 W×H（mm） | 380×520 |
| 湿度范围（%RH） | 10–98 %RH |
| 湿度均匀度 | ±1.0 %RH |
| 相对湿度偏差 | ≤ +2.0 至 −3 %RH（>75 %RH）；≤ ±5.0 %RH（≤75 %RH） |
| 供水 | 泵供水 |
| 控制 | PID，可编程曲线，RS-485 |
| 噪声 | ≤ 68 dB |
| 电源 | AC380V，三相五线，50/60 Hz |
| 专利号 | CN201920954255.X |
湿度指标适用于配置湿度的试验箱。实际性能取决于箱体尺寸、温度范围、试样质量、夹具设计和测试条件；升降温速率性能应在预期测试负载下进行评估。
标准
试验箱可依据 IEC 60068-2-14、IEC 60068-3-5、JEDEC JESD22-A104、MIL-STD-810、AEC-Q100、ISO 16750 和 RTCA DO-160 配置测试程序。
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