TestEQ mereka bentuk dan membina sistem ujian kebolehpercayaan dan kebuk ujian alam sekitar secara pesanan kejuruteraan. Platform kebuk yang sama dikonfigurasikan secara berbeza bergantung pada produk yang sedang dikelaskan, tekanan yang perlu ditahan dan piawaian yang dipatuhi oleh makmal. Halaman ini mengelompokkan keperluan tersebut mengikut industri.
Kebuk dihasilkan di bawah sistem kualiti ISO 9001, dan syarikat mengendalikan Pusat Penyelidikan Teknologi Kejuruteraan Kebuk Ujian Alam Sekitar yang diiktiraf kerajaan, dengan pejabat jualan dan perkhidmatan di Dongguan, Xi’an, Beijing dan Shanghai. Spesifikasi peringkat mesin yang diterbitkan merangkumi keseluruhan julat: suhu dari −75°C hingga +200°C, turun naik suhu < ±0.5°C, sisihan suhu < ±2.0°C, keseragaman suhu ±0.5°C, dan isipadu kebuk dari 100 hingga 12,000 L. Lihat julat produk untuk siri individu, dan soalan lazim untuk butiran pemilihan.
Aeroangkasa dan Pertahanan
Artikel ujian tipikal: avionik dan elektronik kawalan penerbangan, pemasangan struktur pesawat dan UAV, komponen satelit dan kapal angkasa, penyambung, penderia dan bahan.
Jenis ujian biasa: suhu tinggi dan rendah, kejutan suhu, suhu–altitud (tekanan rendah), vakum terma, dan ujian gabungan suhu–kelembapan–getaran.
Piawaian tipikal: MIL-STD-810, MIL-STD-202, MIL-STD-883, GJB150, IEC 60068.
Automotif
Artikel ujian tipikal: ECU, penderia, modul kawalan, penyambung, sistem pencahayaan, elektronik kuasa dan sub-pemasangan lengkap.
Jenis ujian biasa: kitaran suhu dan kelembapan, kitaran terma, kejutan terma, ujian suhu–getaran, dan kakisan gas bercampur atau garam untuk komponen terdedah.
Piawaian tipikal: GB/T 28046.4, IEC 60068, MIL-STD-810, ASTM B117, ASTM G85, UL.
Semikonduktor
Artikel ujian tipikal: peranti berbungkus, IC, pemasangan papan dan sambungan pateri.
Jenis ujian biasa: kitaran suhu, suhu-kelembapan-bias (THB) dan HAST tanpa bias, kejutan terma dan perubahan suhu pantas.
Piawaian tipikal: JEDEC JESD22 (termasuk JESD22-A104, JESD22-A101 dan JESD22-A118), IEC 60068, IEC 60749, MIL-STD-883.
Bateri EV
Artikel ujian tipikal: sel dan pek litium-ion, modul bateri, elektronik pengurusan bateri dan sistem penyimpanan tenaga (ESS).
Jenis ujian biasa: kitaran suhu, kejutan terma, haba lembap, saringan tekanan alam sekitar (ESS) dan ujian suhu–getaran.
Piawaian tipikal: IEC 62660, IEC 60068, GB/T 28046.4, UL.
Elektronik dan Elektrik
Artikel ujian tipikal: komponen, pemasangan PCB, penyambung, bekalan kuasa dan elektronik industri atau pengguna.
Jenis ujian biasa: suhu dan kelembapan tinggi dan rendah, kejutan terma, kitaran suhu, ujian gabungan getaran dan ujian kakisan.
Piawaian tipikal: IEC 60068, JEDEC JESD22, MIL-STD-202, MIL-STD-883, ASTM B117, ASTM G85, UL.
Institut Penyelidikan dan Makmal
Artikel ujian tipikal: bahan, prototaip, peranti tunggal dan sampel peringkat sistem yang tidak sesuai dengan kebuk katalog standard.
Jenis ujian biasa: persekitaran suhu, kelembapan, altitud dan vakum terma tersuai, ujian tekanan gabungan, dan profil ujian yang dikonfigurasikan untuk kerja eksperimen.
Piawaian tipikal: IEC 60068, GB, GJB, MIL-STD-810, ASTM, UL.
Memilih konfigurasi
Tekanan yang disenaraikan di atas berkongsi satu keperluan: kebuk mesti mengekalkan keadaan suhu dan tekanan yang ditetapkan di sekeliling beban sebenar, bukan ruang kosong. Isipadu, julat suhu, kadar perubahan suhu, julat kelembapan dan haba yang dihasilkan oleh artikel ujian ditentukan bersama sebelum model dipilih. FAQ merangkumi faktor pemilihan ini, dan jurutera TestEQ mengesahkan spesifikasi terhadap piawaian yang berkenaan sebelum kebuk dikonfigurasikan.