Kebuk ujian kejutan terma siri ETS TestEQ mendedahkan spesimen kepada peralihan mendadak antara zon panas dan sejuk untuk menilai ketahanan kejutan terma. Susun atur dua zon atau tiga zon dipilih bergantung kepada sama ada spesimen boleh dipindahkan semasa ujian.
Aplikasi
- Semikonduktor, IC dan komponen elektronik
- Pemasan PCB dan sambungan pateri
- Elektronik automotif dan komponen kuasa EV
- Peralatan aeroangkasa, pertahanan dan komunikasi
- Bahan baharu, kaca, seramik dan komposit
- Bateri dan modul kuasa
Reka bentuk dua zon dan tiga zon
- Sistem dua zon: bakul spesimen bergerak secara menegak antara zon yang dipanaskan terlebih dahulu dan zon yang disejukkan terlebih dahulu. Masa pemindahan bakul ialah ≤ 10 saat, dan pemulihan suhu dalam spesifikasi biasanya dalam ≤ 5 minit.
- Sistem tiga zon: zon panas, sejuk dan ambien adalah berasingan; spesimen boleh dibiarkan pegun sementara udara ditukar antara zon. Masa peralihan ialah ≤ 3–10 saat dan tekanan mekanikal daripada pergerakan bakul dihapuskan.
- Susun atur tiga zon lebih sesuai untuk pemasan elektronik ketepatan, peranti semikonduktor dan komponen aeroangkasa yang memerlukan kebolehulangan dan ketekalan data yang penting.
Konfigurasi dan ciri
- Julat suhu -70 °C hingga +200 °C.
- Julat pemanasan awal +60 °C hingga +200 °C; kadar pemanasan +60 °C hingga +200 °C ≤ 20 min.
- Kadar penyejukan dari +20 °C hingga -70 °C ≤ 30 min.
- Peralihan suhu pantas dan pemulihan terkawal menyokong kitaran kejutan terma berulang (>2000 kitaran ujian berterusan pada konfigurasi yang disokong).
- Kawalan PID dengan pengaturcaraan skrin sentuh dan komunikasi RS-485.
- Pilihan termasuk bilangan kedudukan bakul, kapasiti beban dan lekapan ujian, dipilih mengikut spesimen dan profil beban.
Spesifikasi
| Parameter | Nilai |
|---|---|
| Julat suhu | -70 °C hingga +200 °C |
| Masa peralihan (pemindahan bakul) | ≤ 10 s (dua zon); ≤ 3–10 s (tiga zon) |
| Pemulihan suhu | dalam spesifikasi, biasanya ≤ 5 min |
| Julat pemanasan awal | +60 °C hingga +200 °C |
| Kadar pemanasan (+60 → +200 °C) | ≤ 20 min |
| Kadar penyejukan (+20 → -70 °C) | ≤ 30 min |
| Kawalan | PID, skrin sentuh, RS-485 |
Penamaan model termasuk siri ETS (contohnya ETS200-40W, ETS200-55W); spesifikasi akhir bergantung kepada model kebuk, keperluan peralihan dan beban ujian.
Piawaian
Kebuk boleh dikonfigurasikan untuk program ujian berdasarkan MIL-STD-810H Method 503.7, IEC 60068-2-14, JESD22-A104, GJB150.5A-2009 dan ISO 16750.
Untuk memilih konfigurasi dua zon atau tiga zon, hubungi kami dengan spesimen, julat suhu yang diperlukan dan keperluan peralihan. Berkaitan: Kebuk Perubahan Suhu Pantas, Kebuk Ujian Suhu Tinggi dan Rendah (Kelembapan).