TestEQは、信頼性試験システムおよび環境試験装置をエンジニアリング・ツー・オーダー方式で設計・製作しています。同じチャンバープラットフォームでも、適合させる製品、耐えなければならないストレス、および laboratory が準拠する規格に応じて、異なる構成が採用されます。本ページでは、これらの要件を業界別に分類しています。
チャンバーはISO 9001品質システムの下で製造されており、当社は政府認定の環境試験装置工学技術研究センターを運営し、東莞、西安、北京、上海に販売・サービス拠点を設けています。公開されている機種レベルの仕様はシリーズ全体に共通です。温度は−75°C～+200°C、温度変動は< ±0.5°C、温度偏差は< ±2.0°C、温度均一性は±0.5°C、チャンバー容積は100～12,000 Lです。個別のシリーズについては製品ラインナップを、選定の詳細についてはよくあるご質問をご参照ください。
航空宇宙・防衛
代表的な試験対象: アビオニクスおよび飛行制御エレクトロニクス、航空機およびUAVの構造アセンブリ、衛星および宇宙機のコンポーネント、コネクタ、センサー、材料。
一般的な試験種類: 高温・低温、温度衝撃、温度－高度（低圧）、熱真空、および温度－湿度－振動の複合試験。
代表的な規格: MIL-STD-810、MIL-STD-202、MIL-STD-883、GJB150、IEC 60068。
自動車
代表的な試験対象: ECU、センサー、制御モジュール、コネクタ、照明システム、パワーエレクトロニクス、および完成したサブアセンブリ。
一般的な試験種類: 温度・湿度サイクル、熱サイクル、熱衝撃、温度－振動試験、および露出部品の混合ガス腐食または塩害腐食。
代表的な規格: GB/T 28046.4、IEC 60068、MIL-STD-810、ASTM B117、ASTM G85、UL。
半導体
代表的な試験対象: パッケージ済みデバイス、IC、基板アセンブリ、はんだ接続部。
一般的な試験種類: 温度サイクル、温度－湿度－バイアス（THB）および無バイアスHAST、熱衝撃、急速温度変化。
代表的な規格: JEDEC JESD22（JESD22-A104、JESD22-A101、JESD22-A118を含む）、IEC 60068、IEC 60749、MIL-STD-883。
EVバッテリー
代表的な試験対象: リチウムイオンセルおよびパック、バッテリーモジュール、バッテリー管理エレクトロニクス、エネルギー貯蔵システム（ESS）。
一般的な試験種類: 温度サイクル、熱衝撃、湿熱、環境ストレススクリーニング（ESS）、温度－振動試験。
代表的な規格: IEC 62660、IEC 60068、GB/T 28046.4、UL。
エレクトロニクス・電気
代表的な試験対象: 部品、PCBアセンブリ、コネクタ、電源、産業用または民生用エレクトロニクス。
一般的な試験種類: 高温・低温・湿度、熱衝撃、温度サイクル、振動複合試験、腐食試験。
代表的な規格: IEC 60068、JEDEC JESD22、MIL-STD-202、MIL-STD-883、ASTM B117、ASTM G85、UL。
研究機関・ラボラトリー
代表的な試験対象: 材料、試作品、単体デバイス、標準カタログチャンバーに適合しないシステムレベルのサンプル。
一般的な試験種類: カスタム温度・湿度・高度・熱真空環境、複合ストレス試験、実験作業用に構成された試験プロファイル。
代表的な規格: IEC 60068、GB、GJB、MIL-STD-810、ASTM、UL。
構成の選定
上記のストレスには共通する要件が1つあります。チャンバーは、空の空間ではなく実際の負荷の周囲で、規定された温度および圧力条件を維持しなければならないということです。容積、温度範囲、温度変化率、湿度範囲、および試験対象が発生する熱は、機種を選定する前にまとめて決定されます。FAQではこれらの選定要因を扱っており、TestEQのエンジニアはチャンバーを構成する前に、適用規格に対して仕様を確認します。