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環境試験槽および信頼性試験システム

TestEQは、受注設計による環境試験槽および信頼性試験システムを設計・製造しています。温湿度、熱衝撃、急速温度変化試験槽から、ウォークイン、高度(低圧)、熱真空システムまで、各試験槽は試験規格および被試験製品に合わせて構成されます。

温度範囲 −75 °C~+200 °C 変動幅 ±0.5 °C以内 容量 100~12,000 L 急速変化 最大30 °C/min ISO 9001

製品ライン

試験槽は東莞工場にて受注生産されます。サイズ、温度範囲、制御オプションは、適用される試験規格に基づき設計段階で決定されます。

温度・気候試験槽

温度変化試験槽

複合ストレス試験槽

加速寿命・スクリーニング試験槽

大型・カスタム試験槽

真空・低圧試験槽

TestEQが選ばれる理由

試験槽が規定の試験方法に適合し、工場での検収に合格するために、お客様が信頼できる事項。

受注設計

試験槽はカタログから選定するだけでなく、お客様の試験プロファイルに合わせて設計・製造されます。非標準のサイズや制御構成も社内で対応します。

ISO 9001品質マネジメント

設計および生産はISO 9001品質マネジメントシステムの下で運用され、出荷前に完成した試験槽の検査を実施します。

工学技術研究センター

東莞徳思は、環境試験槽工学技術研究センターとして地方政府から認定されています。

試験槽の性能

公表されている装置レベルの数値:温度範囲 −75 °C~+200 °C、温度変動幅 ±0.5 °C以内、偏差 ±2.0 °C以内、均一性 ±0.5 °C、容量 100~12,000 L、急速変化 最大30 °C/min。

規格対応

試験槽は用途に応じて、GB、GJB、IEC、ASTM、UL、MIL-STD、IEC 60068、JEDEC JESD22の試験方法に基づいて製作されます。

サービスネットワーク

東莞、西安、北京、上海の営業所およびアフターサービスセンターが、設置、試運転、保守をサポートします。

対応業界

環境ストレス試験は、これらの分野の認定プログラムに組み込まれています。

航空宇宙・防衛

部品およびアセンブリの高度、熱真空、熱衝撃、複合環境試験。

自動車・EV

電子制御ユニット、パック、パワーエレクトロニクスの温度サイクル、湿度、熱衝撃試験。

半導体・エレクトロニクス

部品、PCB、完成デバイスの熱衝撃、HALT/HASS、定常気候試験。

電池・エネルギー貯蔵

セル、モジュール、電池パックの気候および急速温度変化試験。

研究機関

独自の試験方法に取り組む大学や研究機関向けのカスタム試験槽および試験ベンチ。

部品メーカー

大型部品、サブアセンブリ、生産スクリーニング向けのウォークイン試験槽および複合システム。

工場内の様子

試験槽の板金加工、冷凍機組立、配線、最終試験は東莞工場で行われます。

東莞工場の環境試験槽作業場 環境試験槽の冷凍機および制御装置の組立 検収試験を待つ完成した環境試験槽

環境試験エンジニアリングノート

選定方法、試験規格の定義およびチャンバー条件(当社のエンジニアリング文書より抜粋)

ウォークイン槽の設計:パネル式と溶接式の比較、および大容積での均一性

ウォークイン槽におけるパネル式と溶接式の選定、ポリウレタンの85 °C上限、そして大容積で温度均一性を維持する方法を解説します。

温湿度試験規格の比較:GB/T、GJB、IEC 60068、MIL-STD、JEDEC JESD22

各環境試験規格ファミリー - GB/T 2423、GJB 150、IEC 60068、MIL-STD-810、JEDEC JESD22 - が規定する内容と、試験方法の対応関係を解説します。

宇宙向け熱真空チャンバー:真空と温度の連成および冷黒背景

宇宙搭載機器が真空と温度の複合環境で試験される理由、冷黒シュラウドの仕組み、関与する真空度と標準規格について解説します。

高度チャンバー低圧試験:高度・圧力換算、標準規格および減圧速度

高度と圧力の対応関係、低圧試験を規定する標準規格、減圧速度とチャンバーの圧力許容差の規定方法について解説します。

熱衝撃試験と急速温度変化試験:メカニズム、規格、選定限界

2ゾーン方式と3ゾーン方式の熱衝撃試験が、単一チャンバー式の急速温度変化試験とどう異なるかを解説します。遷移時間、復帰時間、選定限界について述べます。

環境試験槽の選定方法:容積、温度範囲、昇降温速度、負荷、湿度

温度範囲、昇降温速度、容積、供試体負荷、湿度、規格など、環境試験槽を仕様化するための手順を段階的に解説します。

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