Kedua-dua ujian memindahkan produk antara panas dan sejuk, dan kedua-duanya ditentukan oleh julat suhu. Ia bukan mesin yang sama dan ia tidak menguji mod kegagalan yang sama. Perbezaannya terletak pada bagaimana perubahan suhu dihasilkan.
Mekanismenya berbeza
Kejutan terma memindahkan spesimen antara dua atau tiga zon suhu yang dikawal secara berasingan dan membiarkan pemindahan itu sendiri menghasilkan tegasan sementara. Kebuk siri ETS melakukan ini sama ada dengan peredam yang digerakkan udara antara zon atau dengan bakul yang bergerak antara zon panas dan zon sejuk. Masa peralihan ialah ≤3–10 s dan pemulihan suhu ialah ≤0.5–3 min. Spesimen mengalami satu langkah, bukan satu cerun.
Perubahan suhu pantas mengekalkan spesimen dalam satu kebuk dan mengubah suhu udara pada kadar terkawal. Siri EATH ditawarkan dalam langkah 5, 10 dan 15 °C/min, sehingga 30 °C/min. Spesimen melihat kadar yang berterusan, dan kadar itu boleh diikat pada permukaan spesimen dan bukan pada udara.
Piawaiannya berbeza
Kejutan terma berada di bawah IEC 60068-2-14, MIL-STD-810H Kaedah 503.7, MIL-STD-202 Kaedah 107 dan GJB150.5A-2009. Perubahan suhu pantas dan kitaran suhu berada di bawah IEC 60068-3-5 untuk pengesahan prestasi kebuk dan JEDEC JESD22-A104 untuk kitaran suhu semikonduktor. Profil suhu yang sama membawa tujuan, keadaan spesimen dan kriteria penerimaan yang berbeza bergantung pada piawaian yang menjadi rujukannya, jadi piawaian ditetapkan sebelum kebuk ditentukan.
Bila kejutan terma ialah alat yang betul
Gunakannya apabila kegagalan yang anda buru dihasilkan oleh keadaan sementara: keretakan sambungan pateri, pengelupasan salutan, keretakan pakej. Kebuk dua zon memindahkan produk antara kebuk panas dan sejuk; spesimen bergerak bersama bakul. Kebuk tiga zon mengekalkan spesimen tidak bergerak di tengah dan menukar laluan udara antara slot yang dipanaskan awal dan disejukkan awal, yang sesuai untuk beban yang halus atau yang dipasang pada lekapan.
Bila perubahan suhu pantas ialah alat yang betul
Gunakannya apabila produk mesti melihat kadar suhu permukaan yang ditentukan, apabila spesimen besar atau berkuasa, atau apabila ujian itu ialah ujian hayat kitaran suhu yang panjang dijalankan dalam satu ruang. Siri EATH menyokong kawalan suhu produk: dengan kebuk ditetapkan untuk bergerak antara +80 °C dan −40 °C dan prabias 20 °C, permukaan spesimen mencapai −40 °C dalam 16 minit berbanding 50, menjimatkan 34 minit pada peralihan itu.
Sempadan pemilihan
- Peralihan langkah, milisaat hingga saat → kebuk kejutan terma.
- Profil kadar berterusan, spesimen berkuasa atau bersaiz besar → kebuk perubahan suhu pantas.
- Pemasan lengkap terlalu besar untuk kabinet → kebuk walk-in, dalam had suhu strukturnya.
Membaca spesifikasi kejutan
Keperluan kejutan terma ditentukan oleh empat nombor: julat zon panas, julat zon sejuk, masa pemindahan dan masa pemulihan. Keempat-empatnya mesti dipenuhi serentak, dan pemulihan dinyatakan berdasarkan masa pendedahan yang dinyatakan dan kedudukan sensor. Kebuk ditentukan berdasarkan keempat-empat itu, bukan berdasarkan julat suhu sahaja.
Hubungi kami dengan piawaian, saiz spesimen dan beban haba, serta profil yang diperlukan, dan kami akan mengesahkan yang mana satu daripada kedua-duanya yang terpakai.