两种试验都要把产品在高温和低温之间来回搬，选型时也都按温度区间报。但它们不是同一台设备，考的不是同一种失效。区别在温度变化是怎么产生的。
机理不同
温度冲击把试样在两个或三个独立温区之间快速转移，靠转移本身制造瞬态热应力。ETS 系列用气动风门在温区之间切换，或用提篮在高温区和低温区之间移动。转换时间 ≤3～10 s，温度恢复时间 ≤0.5～3 min。试样承受的是阶跃，不是斜坡。
快速温变把试样留在同一个箱内，按受控速率改变箱内空气温度。EATH 系列分 5、10、15 °C/min 三档，可达 30 °C/min。试样看到的是连续速率，而且速率可以绑在试样表面温度上，而不是箱内气温上。
标准不同
温度冲击归 IEC 60068-2-14、MIL-STD-810H Method 503.7、MIL-STD-202 Method 107、GJB150.5A-2009。快速温变与温度循环归 IEC 60068-3-5（箱体性能验证）、JEDEC JESD22-A104（半导体温度循环）。同一个温度剖面，写在哪个标准下，试验目的、试样状态和接收判据都不一样，所以先定标准，再定箱体。
什么时候用冲击
要追的失效由瞬态造成时用它：焊点开裂、镀层剥离、封装开裂。两厢式在高温箱和低温箱之间搬运产品，试样随提篮移动。三厢式把试样固定在中位，靠风门在预热的蓄热槽和预冷的蓄冷槽之间切换气流，适合怕震、带夹具的试样。
什么时候用快速温变
产品需要按表面温度变化率考核、试样大或带载通电、或者在同一个空间里跑长时间温度循环寿命试验时用它。EATH 系列带产品温度控制：箱内设定在 +80 ℃ 与 −40 ℃ 之间往复、并设 20 ℃ 温度前置时，试样表面温度 16 分钟到达 −40 ℃，不用该功能要 50 分钟，这一次转换省 34 分钟。
选型边界
- 阶跃瞬态、毫秒到秒级 → 温度冲击箱；
- 连续速率剖面、带载或超大试样 → 快速温变箱；
- 整机太大、装不进立式箱 → 步入式，但要受结构温度上限约束。
联系我们，把标准、试样尺寸与发热量和需要的温度剖面给我们，我们确认该用哪一种。