ห้องทดสอบ ESS ของ TestEQ ใช้การหมุนเวียนอุณหภูมิแบบควบคุมและการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิอย่างรวดเร็วกับหน่วยผลิตเพื่อเปิดเผยข้อบกพร่องแฝงจากการผลิตก่อนการจัดส่ง การคัดกรองความเครียดสิ่งแวดล้อมเสริมการทดสอบการทำงานโดยการสร้างความเครียดให้กับทุกหน่วย หรือกลุ่มตัวอย่างที่กำหนด ด้วยโปรไฟล์ที่ทำซ้ำได้
การใช้งาน
- การคัดกรองการผลิตสำหรับข้อบกพร่องแฝงจากการผลิต
- การควบคุมคุณภาพการผลิตและการคัดกรองความล้มเหลวระยะเริ่มต้น
- อิเล็กทรอนิกส์ ชุดประกอบ PCB และโมดูล
- อิเล็กทรอนิกส์ยานยนต์และ EV
- ชิ้นส่วนที่ต้องการโปรไฟล์การคัดกรองที่กำหนด
การกำหนดค่าและคุณสมบัติ
- ช่วงอุณหภูมิ -70 °C ถึง +180 °C
- อัตราการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิ 5 °C/min ถึง 25 °C/min (เลือกเสริม)
- ความผันผวนของอุณหภูมิ < ±0.5 °C; ความเบี่ยงเบนของอุณหภูมิ < ±2.0 °C; ความสม่ำเสมอของอุณหภูมิ < 2.0 °C
- สามารถรวมความชื้นและความเครียดสิ่งแวดล้อมอื่น ๆ ได้ ขึ้นอยู่กับโปรแกรมการคัดกรอง
- ช่วงการคัดกรองที่นิยม: -40 °C ถึง +85 °C; -45 °C ถึง +85 °C (+125 °C); -55 °C ถึง +85 °C (+125 °C) สำหรับข้อกำหนดระดับทหาร
- โปรไฟล์ความเครียดถูกกำหนดเพื่อเปิดเผยข้อบกพร่องแฝงโดยไม่เกินขีดจำกัดการคัดกรองผลิตภัณฑ์ที่ตั้งใจไว้
- ความจุของห้อง ประสิทธิภาพการบรรจุ ปริมาณงาน และความสามารถในการทำซ้ำถูกเลือกตามโปรแกรมการคัดกรอง
ข้อมูลจำเพาะ
| พารามิเตอร์ | ค่า |
|---|---|
| ช่วงอุณหภูมิ | -70 °C ถึง +180 °C |
| อัตราการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิ | 5–25 °C/min (เลือกเสริม) |
| ความผันผวนของอุณหภูมิ | < ±0.5 °C |
| ความเบี่ยงเบนของอุณหภูมิ | < ±2.0 °C |
| ความสม่ำเสมอของอุณหภูมิ | < 2.0 °C |
| ช่วงทั่วไป | -40 ถึง +85 °C; -45 ถึง +85 °C (+125 °C); -55 ถึง +85 °C (+125 °C, ทหาร) |
| ความชื้น | เลือกเสริม ขึ้นอยู่กับโปรแกรมการคัดกรอง |
รุ่นห้องทดสอบอุณหภูมิคือซีรีส์ ET
มาตรฐาน
โปรแกรม ESS โดยทั่วไปสอดคล้องกับ JESD22, IEC 60068, MIL-STD-810 และ MIL-STD-883 และกับข้อกำหนดการหมุนเวียนความร้อน เช่น JESD22-A104, IEC 60068-2-14, AEC-Q100 และ ISO 16750
เพื่อกำหนดโปรไฟล์การคัดกรองและปริมาณงาน ติดต่อเรา พร้อมกับหน่วย ประวัติข้อบกพร่อง และระดับความเครียดที่ต้องการ ที่เกี่ยวข้อง: ห้องทดสอบ HALT / HASS, ห้องทดสอบการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิอย่างรวดเร็ว