ห้องทดสอบ Thermal Shock ซีรีส์ ETS จาก TestEQ ใช้ทดสอบชิ้นงานโดยการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิอย่างฉับพลันระหว่างโซนร้อนและโซนเย็น เพื่อประเมินความต้านทานต่อการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิอย่างรวดเร็ว โดยเลือกรูปแบบสองโซนหรือสามโซนตามความเหมาะสมว่าชิ้นงานสามารถเคลื่อนย้ายระหว่างการทดสอบได้หรือไม่
การใช้งาน
- เซมิคอนดักเตอร์ IC และชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์
- แผงวงจร PCB และจุดบัดกรี
- อิเล็กทรอนิกส์ยานยนต์และชิ้นส่วนกำลังของรถยนต์ไฟฟ้า
- อุปกรณ์การบินและอวกาศ การป้องกันประเทศ และการสื่อสาร
- วัสดุใหม่ แก้ว เซรามิก และวัสดุผสม
- แบตเตอรี่และโมดูลกำลัง
รูปแบบสองโซนและสามโซน
- ระบบสองโซน: ตะกร้าชิ้นงานเคลื่อนที่ในแนวตั้งระหว่างโซนที่ให้ความร้อนล่วงหน้าและโซนที่ทำความเย็นล่วงหน้า เวลาถ่ายโอนตะกร้า ≤ 10 วินาที และการกลับคืนสู่อุณหภูมิที่กำหนดโดยทั่วไปภายใน ≤ 5 นาที
- ระบบสามโซน: โซนร้อน โซนเย็น และโซนอุณหภูมิแวดล้อมแยกออกจากกัน ชิ้นงานสามารถอยู่กับที่ได้ขณะสลับการไหลของอากาศระหว่างโซน เวลาการเปลี่ยนแปลง ≤ 3–10 วินาที และขจัดความเค้นเชิงกลจากการเคลื่อนที่ของตะกร้า
- รูปแบบสามโซนเหมาะสำหรับชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ที่มีความแม่นยำสูง อุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์ และชิ้นส่วนการบินและอวกาศ ซึ่งความสามารถในการทำซ้ำและความสอดคล้องของข้อมูลเป็นสิ่งสำคัญ
การกำหนดค่าและคุณสมบัติ
- ช่วงอุณหภูมิ -70 °C ถึง +200 °C
- ช่วงการให้ความร้อนล่วงหน้า +60 °C ถึง +200 °C; อัตราการให้ความร้อน +60 °C ถึง +200 °C ≤ 20 นาที
- อัตราการทำความเย็นจาก +20 °C ถึง -70 °C ≤ 30 นาที
- การเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิอย่างรวดเร็วและการกลับคืนสู่อุณหภูมิที่ควบคุมได้รองรับการทดสอบ Thermal Shock ซ้ำหลายรอบ (มากกว่า 2000 รอบสำหรับการทดสอบต่อเนื่องในการกำหนดค่าที่รองรับ)
- ควบคุมด้วย PID พร้อมการตั้งค่าผ่านหน้าจอสัมผัสและการสื่อสาร RS-485
- ตัวเลือก ได้แก่ จำนวนตำแหน่งของตะกร้า ความสามารถในการรับน้ำหนัก และอุปกรณ์จับยึดชิ้นงาน ซึ่งเลือกตามชิ้นงานและโปรไฟล์การรับน้ำหนัก
ข้อมูลจำเพาะ
| พารามิเตอร์ | ค่า |
|---|---|
| ช่วงอุณหภูมิ | -70 °C ถึง +200 °C |
| เวลาการเปลี่ยนแปลง (ถ่ายโอนตะกร้า) | ≤ 10 วินาที (สองโซน); ≤ 3–10 วินาที (สามโซน) |
| การกลับคืนสู่อุณหภูมิ | ภายในข้อกำหนด โดยทั่วไป ≤ 5 นาที |
| ช่วงการให้ความร้อนล่วงหน้า | +60 °C ถึง +200 °C |
| อัตราการให้ความร้อน (+60 → +200 °C) | ≤ 20 นาที |
| อัตราการทำความเย็น (+20 → -70 °C) | ≤ 30 นาที |
| การควบคุม | PID, หน้าจอสัมผัส, RS-485 |
รุ่นต่างๆ ได้แก่ ซีรีส์ ETS (ตัวอย่างเช่น ETS200-40W, ETS200-55W) ข้อมูลจำเพาะสุดท้ายขึ้นอยู่กับรุ่นของห้องทดสอบ ข้อกำหนดการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิ และภาระการทดสอบ
มาตรฐาน
ห้องทดสอบสามารถกำหนดค่าให้สอดคล้องกับโปรแกรมการทดสอบตาม MIL-STD-810H Method 503.7, IEC 60068-2-14, JESD22-A104, GJB150.5A-2009 และ ISO 16750
สำหรับการเลือกรูปแบบสองโซนหรือสามโซน ติดต่อเรา พร้อมระบุชิ้นงาน ช่วงอุณหภูมิที่ต้องการ และข้อกำหนดการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิ ที่เกี่ยวข้อง: ห้องทดสอบการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิอย่างรวดเร็ว, ห้องทดสอบอุณหภูมิสูงและต่ำ (ความชื้น)