ห้องทดสอบการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิอย่างรวดเร็วซีรีส์ EATH ของ TestEQ ใช้การเพิ่มและลดอุณหภูมิเชิงเส้นแบบควบคุมกับผลิตภัณฑ์เพื่อเร่งความล้าจากความร้อนและเปิดเผยกลไกความเสียหายที่เกี่ยวข้องกับอุณหภูมิ เหมาะสำหรับการทดสอบวัฏจักรความร้อนที่อัตราการเปลี่ยนอุณหภูมิ ความสม่ำเสมอ และความสามารถทำซ้ำเป็นสิ่งสำคัญ
การใช้งาน
- ความน่าเชื่อถือและวัฏจักรความร้อนของเซมิคอนดักเตอร์และ IC
- ชุดประกอบ PCB จุดบัดกรี และการเชื่อมต่อระหว่างกัน
- อิเล็กทรอนิกส์ยานยนต์และโมดูลกำลังไฟฟ้าของ EV
- อุปกรณ์การบินและอวกาศและการสื่อสาร
- เซลล์และโมดูลแบตเตอรี่
- วัสดุและสารเคลือบ
การกำหนดค่าและคุณสมบัติ
- ช่วงอุณหภูมิ -70 °C ถึง +180 °C (เลือก 200 °C ได้)
- อัตราการเปลี่ยนอุณหภูมิเชิงเส้นตั้งแต่ 5 °C/นาที ถึง 30 °C/นาที อัตราที่ใช้ทั่วไปคือ 5, 10, 15, 20 และ 25 °C/นาที โดยมีการกำหนดค่าบางแบบที่รองรับสูงถึง 30 °C/นาที
- ช่วงการทดสอบที่นิยมใช้ -40 °C ถึง +85 °C
- ความสม่ำเสมอของอุณหภูมิและเสถียรภาพการควบคุมคงอยู่ที่อัตราการเปลี่ยนอุณหภูมิสูง
- การหมุนเวียนอากาศได้รับการออกแบบให้รักษาความสม่ำเสมอของอุณหภูมิและอัตราที่ชิ้นงานสัมผัสกับอุณหภูมิตามโปรแกรมให้สม่ำเสมอ
- การควบคุมแบบ PID พร้อมโปรไฟล์ที่ตั้งโปรแกรมได้และการสื่อสาร RS-485
- ตัวเลือกเสริมรวมถึงการอัปเกรดอัตราการเปลี่ยนอุณหภูมิสูง (≥ 30 °C/นาที)
ข้อมูลจำเพาะ
| พารามิเตอร์ | ค่า |
|---|---|
| ช่วงอุณหภูมิ | -70 °C ถึง +180 °C (เลือก 200 °C ได้) |
| อัตราการเปลี่ยนอุณหภูมิ (เชิงเส้น) | 5–30 °C/นาที |
| อัตราที่ใช้ทั่วไป | 5 / 10 / 15 / 20 / 25 °C/นาที |
| ช่วงที่ใช้ทั่วไป | -40 °C ถึง +85 °C |
| การควบคุม | PID, โปรไฟล์ที่ตั้งโปรแกรมได้, RS-485 |
รุ่นต่างๆ รวมถึงซีรีส์ EATH (ตัวอย่างเช่น EATH800-40W5/W10/W15 และ EATH1000-40W5/W10/W15) โดยตัวเลขระบุอัตราการเปลี่ยนอุณหภูมิที่กำหนดค่า
มาตรฐาน
ห้องทดสอบสามารถกำหนดค่าให้สอดคล้องกับโปรแกรมการทดสอบตาม IEC 60068-2-14, IEC 60068-3-5, JEDEC JESD22-A104, MIL-STD-810, AEC-Q100, ISO 16750 และ RTCA DO-160
หากต้องการจับคู่อัตราการเปลี่ยนอุณหภูมิกับโปรไฟล์การทดสอบ ติดต่อเรา พร้อมระบุช่วง อัตรา และชิ้นงานที่ต้องการ ที่เกี่ยวข้อง: ห้องทดสอบการกระแทกความร้อน, ห้องทดสอบอุณหภูมิ ความชื้น และการสั่นสะเทือน