📞 +86 188 2550 1449 💬 WeChat / WhatsApp:18825501449 ✉ Sales@testeqglobal.com

Kebuk ujian ESS TestEQ menggunakan kitaran suhu terkawal dan peralihan suhu pantas ke atas unit pengeluaran bagi mendedahkan kecacatan pembuatan terpendam sebelum penghantaran. Saringan tekanan alam sekitar melengkapkan ujian fungsi dengan menekankan setiap unit, atau sampel yang ditetapkan, dengan profil yang boleh diulang.

Aplikasi

  • Saringan pengeluaran untuk kecacatan pembuatan terpendam
  • Kawalan kualiti pembuatan dan saringan kegagalan awal
  • Elektronik, pemasangan dan modul PCB
  • Elektronik automotif dan EV
  • Komponen yang memerlukan profil saringan yang ditetapkan

Konfigurasi dan ciri

  • Julat suhu -70 °C hingga +180 °C.
  • Kadar perubahan suhu 5 °C/min hingga 25 °C/min (pilihan).
  • Turun naik suhu < ±0.5 °C; sisihan suhu < ±2.0 °C; keseragaman suhu < 2.0 °C.
  • Kelembapan dan tekanan alam sekitar lain boleh digabungkan bergantung pada program saringan.
  • Julat saringan popular: -40 °C hingga +85 °C; -45 °C hingga +85 °C (+125 °C); -55 °C hingga +85 °C (+125 °C) untuk keperluan tahap tentera.
  • Profil tekanan ditetapkan supaya ia mendedahkan kecacatan terpendam tanpa melebihi had saringan produk yang dimaksudkan.
  • Kapasiti kebuk, kecekapan pemuatan, daya pengeluaran dan kebolehulangan dipilih berdasarkan program saringan.

Spesifikasi

Parameter Nilai
Julat suhu -70 °C hingga +180 °C
Kadar perubahan suhu 5–25 °C/min (pilihan)
Turun naik suhu < ±0.5 °C
Sisihan suhu < ±2.0 °C
Keseragaman suhu < 2.0 °C
Julat biasa -40 hingga +85 °C; -45 hingga +85 °C (+125 °C); -55 hingga +85 °C (+125 °C, tentera)
Kelembapan pilihan, bergantung pada program saringan

Model kebuk suhu ialah siri ET.

Piawaian

Program ESS biasanya diselaraskan dengan JESD22, IEC 60068, MIL-STD-810 dan MIL-STD-883, serta dengan keperluan kitaran terma seperti JESD22-A104, IEC 60068-2-14, AEC-Q100 dan ISO 16750.

Untuk menetapkan profil saringan dan daya pengeluaran, hubungi kami dengan unit, sejarah kecacatan dan tahap tekanan yang diperlukan. Berkaitan: Kebuk Ujian HALT / HASS, Kebuk Perubahan Suhu Pantas.