德思环境 ETS 系列温度冲击试验箱使试样在高温区与低温区之间快速转换，用于考核产品的耐温度冲击性能。根据试样在试验中是否允许移动，选择两厢式或三厢式结构。
适用行业与试验对象
- 半导体、集成电路与电子元器件
- PCB 组件与焊点
- 汽车电子与新能源车功率部件
- 航空航天、国防与通信设备
- 新材料、玻璃、陶瓷与复合材料
- 电池与功率模块
两厢式与三厢式结构
- 两厢式：试样提篮在预高温区与预低温区之间垂直移动。提篮转换时间 ≤10 秒，温度恢复通常在 ≤5 分钟内达到指标。
- 三厢式：高温区、低温区与环境区相互独立，可在试样保持静止的状态下切换气流。转换时间 ≤3~10 秒，消除了提篮移动带来的机械应力。
- 三厢式结构更适合对重复性与数据一致性要求较高的精密电子组件、半导体器件与航空航天部件。
结构特点
- 温度范围 -70℃~+200℃。
- 预热范围 +60℃~+200℃；升温速率 +60℃~+200℃ ≤20min。
- 降温速率 +20℃~-70℃ ≤30min。
- 快速温度转换与受控恢复，支持反复温度冲击循环（支持配置可连续试验 >2000 循环）。
- PID 控制，触摸屏编程，RS-485 通讯。
- 可选配提篮工位数、负载能力与试验夹具，按试样与负载剖面选定。
规格参数
| 参数 | 数值 |
|---|---|
| 温度范围 | -70℃~+200℃ |
| 转换（提篮转换）时间 | ≤10s（两厢式）；≤3~10s（三厢式） |
| 温度恢复 | 达到指标，通常 ≤5min |
| 预热范围 | +60℃~+200℃ |
| 升温速率（+60 → +200℃） | ≤20min |
| 降温速率（+20 → -70℃） | ≤30min |
| 控制方式 | PID、触摸屏、RS-485 |
型号以 ETS 系列命名（例如 ETS200-40W、ETS200-55W）；最终规格取决于箱体型号、转换要求与试验负载。
符合标准
试验箱可按 MIL-STD-810H 方法 503.7、IEC 60068-2-14、JESD22-A104、GJB150.5A-2009、ISO 16750 等标准要求配置。
如需在两厢式与三厢式之间选择，请将试样、所需温度范围与转换要求联系我们。相关产品：快速温变试验箱、高低温（湿热）试验箱。