Kebuk perubahan suhu pantas TestEQ siri EATH mengenakan cerun suhu linear terkawal kepada produk untuk mempercepat keletihan terma dan mendedahkan mekanisme kegagalan berkaitan suhu. Ia bertujuan untuk kitaran terma di mana kadar peralihan, keseragaman dan kebolehulangan adalah kritikal.
Aplikasi
- Kebolehpercayaan semikonduktor dan IC serta kitaran terma
- Pemasangan PCB, sambungan pateri dan antara sambungan
- Elektronik automotif dan modul kuasa EV
- Peralatan aeroangkasa dan komunikasi
- Sel dan modul bateri
- Bahan dan salutan
Konfigurasi dan ciri
- Julat suhu -70 °C hingga +180 °C (200 °C pilihan).
- Kadar cerun suhu linear dari 5 °C/min hingga 30 °C/min; kadar biasa ialah 5, 10, 15, 20 dan 25 °C/min, dengan sehingga 30 °C/min tersedia untuk konfigurasi terpilih.
- Julat ujian popular -40 °C hingga +85 °C.
- Keseragaman suhu dan kestabilan kawalan dikekalkan pada kadar cerun tinggi.
- Peredaran udara direka untuk mengekalkan keseragaman suhu dan kadar di mana spesimen menerima suhu yang diprogramkan secara konsisten.
- Kawalan PID dengan profil boleh atur cara dan komunikasi RS-485.
- Pilihan termasuk peningkatan kadar cerun tinggi (≥ 30 °C/min).
Spesifikasi
| Parameter | Nilai |
|---|---|
| Julat suhu | -70 °C hingga +180 °C (200 °C pilihan) |
| Kadar cerun (linear) | 5–30 °C/min |
| Kadar biasa | 5 / 10 / 15 / 20 / 25 °C/min |
| Julat tipikal | -40 °C hingga +85 °C |
| Kawalan | PID, profil boleh atur cara, RS-485 |
Penamaan model termasuk siri EATH (contohnya EATH800-40W5/W10/W15 dan EATH1000-40W5/W10/W15); nombor itu menunjukkan kadar cerun yang dikonfigurasikan.
Piawaian
Chamber boleh dikonfigurasikan untuk program ujian berdasarkan IEC 60068-2-14, IEC 60068-3-5, JEDEC JESD22-A104, MIL-STD-810, AEC-Q100, ISO 16750 dan RTCA DO-160.
Untuk memadankan kadar cerun dengan profil ujian, hubungi kami dengan julat, kadar dan spesimen yang diperlukan. Berkaitan: Thermal Shock Test Chamber, Temperature Humidity Vibration Test Chamber.