Buồng thay đổi nhiệt độ nhanh dòng EATH của TestEQ áp dụng các bước tăng nhiệt tuyến tính được kiểm soát lên sản phẩm nhằm tăng tốc mỏi nhiệt và phát hiện các cơ chế hư hỏng liên quan đến nhiệt độ. Thiết bị được thiết kế cho thử nghiệm chu kỳ nhiệt khi tốc độ chuyển đổi, độ đồng đều và độ lặp lại là yếu tố then chốt.
Ứng dụng
- Độ tin cậy và chu kỳ nhiệt của chất bán dẫn và IC
- Cụm PCB, mối hàn và kết nối liên mạch
- Điện tử ô tô và mô-đun nguồn xe điện
- Thiết bị hàng không vũ trụ và thông tin liên lạc
- Tế bào và mô-đun pin
- Vật liệu và lớp phủ
Cấu hình và tính năng
- Dải nhiệt độ -70 °C đến +180 °C (tùy chọn 200 °C).
- Tốc độ tăng nhiệt tuyến tính từ 5 °C/phút đến 30 °C/phút; các tốc độ phổ biến là 5, 10, 15, 20 và 25 °C/phút, có thể lên đến 30 °C/phút cho một số cấu hình nhất định.
- Dải thử nghiệm phổ biến -40 °C đến +85 °C.
- Độ đồng đều nhiệt độ và độ ổn định kiểm soát được duy trì ở tốc độ tăng cao.
- Lưu thông không khí được thiết kế để duy trì độ đồng đều nhiệt độ và tốc độ mà mẫu thử tiếp nhận nhiệt độ theo chương trình một cách nhất quán.
- Điều khiển PID với chương trình có thể lập trình và truyền thông RS-485.
- Tùy chọn bao gồm nâng cấp tốc độ tăng cao (≥ 30 °C/phút).
Thông số kỹ thuật
| Thông số | Giá trị |
|---|---|
| Dải nhiệt độ | -70 °C đến +180 °C (tùy chọn 200 °C) |
| Tốc độ tăng (tuyến tính) | 5–30 °C/phút |
| Tốc độ phổ biến | 5 / 10 / 15 / 20 / 25 °C/phút |
| Dải điển hình | -40 °C đến +85 °C |
| Điều khiển | PID, chương trình có thể lập trình, RS-485 |
Ký hiệu model bao gồm dòng EATH (ví dụ EATH800-40W5/W10/W15 và EATH1000-40W5/W10/W15); con số chỉ tốc độ tăng được cấu hình.
Tiêu chuẩn
Buồng thử nghiệm có thể được cấu hình cho các chương trình thử nghiệm dựa trên IEC 60068-2-14, IEC 60068-3-5, JEDEC JESD22-A104, MIL-STD-810, AEC-Q100, ISO 16750 và RTCA DO-160.
Để khớp tốc độ tăng với hồ sơ thử nghiệm, liên hệ với chúng tôi với dải nhiệt độ, tốc độ và mẫu thử yêu cầu. Liên quan: Buồng thử nghiệm sốc nhiệt, Buồng thử nghiệm nhiệt ẩm rung.