德思环境 EATH 系列快速温变试验箱对产品施加受控的线性温度变化，用于加速热疲劳、暴露与温度相关的失效机理。适用于对温变速率、均匀性与重复性要求较高的温度循环试验。
适用行业与试验对象
- 半导体与集成电路可靠性及温度循环
- PCB 组件、焊点与互连
- 汽车电子与新能源车功率模块
- 航空航天与通信设备
- 电池电芯与模组
- 材料与涂层
结构特点
- 温度范围 -70℃~+180℃（可选 200℃）。
- 线性温变速率 5℃/min 至 30℃/min；常用速率为 5、10、15、20、25℃/min，特定配置可达 30℃/min。
- 常用试验范围 -40℃~+85℃。
- 在高温变速率下仍保持温度均匀性与控制稳定性。
- 空气循环设计使温度均匀性与试样经历设定温度的速度保持一致。
- PID 控制，可编程剖面，RS-485 通讯。
- 可选高升降温速率升级（≥30℃/min）。
规格参数
| 参数 | 数值 |
|---|---|
| 温度范围 | -70℃~+180℃（可选 200℃） |
| 温变速率（线性） | 5~30℃/min |
| 常用速率 | 5 / 10 / 15 / 20 / 25℃/min |
| 常用试验范围 | -40℃~+85℃ |
| 控制方式 | PID、可编程剖面、RS-485 |
型号以 EATH 系列命名（例如 EATH800-40W5/W10/W15 与 EATH1000-40W5/W10/W15）；型号中的数字表示所配置的温变速率。
符合标准
试验箱可按 IEC 60068-2-14、IEC 60068-3-5、JEDEC JESD22-A104、MIL-STD-810、AEC-Q100、ISO 16750、RTCA DO-160 等标准要求配置。