德思環境 EATH 系列快速溫變試驗箱對產品施加受控的線性溫度變化，用於加速熱疲勞、暴露與溫度相關的失效機理。適用於對溫變速率、均勻性與重複性要求較高的溫度循環試驗。
適用行業與試驗對象
- 半導體與積體電路可靠性及溫度循環
- PCB 組件、焊點與互連
- 汽車電子與新能源車功率模組
- 航太與通訊設備
- 電池電芯與模組
- 材料與塗層
結構特點
- 溫度範圍 -70℃~+180℃（可選 200℃）。
- 線性溫變速率 5℃/min 至 30℃/min；常用速率為 5、10、15、20、25℃/min，特定配置可達 30℃/min。
- 常用試驗範圍 -40℃~+85℃。
- 在高溫變速率下仍保持溫度均勻性與控制穩定性。
- 空氣循環設計使溫度均勻性與試樣經歷設定溫度的速度保持一致。
- PID 控制，可程式剖面，RS-485 通訊。
- 可選高升降溫速率升級（≥30℃/min）。
規格參數
| 參數 | 數值 |
|---|---|
| 溫度範圍 | -70℃~+180℃（可選 200℃） |
| 溫變速率（線性） | 5~30℃/min |
| 常用速率 | 5 / 10 / 15 / 20 / 25℃/min |
| 常用試驗範圍 | -40℃~+85℃ |
| 控制方式 | PID、可程式剖面、RS-485 |
型號以 EATH 系列命名（例如 EATH800-40W5/W10/W15 與 EATH1000-40W5/W10/W15）；型號中的數字表示所配置的溫變速率。
符合標準
試驗箱可按 IEC 60068-2-14、IEC 60068-3-5、JEDEC JESD22-A104、MIL-STD-810、AEC-Q100、ISO 16750、RTCA DO-160 等標準要求配置。