Die Schnelltemperaturwechselkammer der TestEQ EATH-Serie führt kontrollierte lineare Temperaturrampen an einem Produkt durch, um thermische Ermüdung zu beschleunigen und temperaturbedingte Ausfallmechanismen aufzudecken. Sie ist für Temperaturwechselzyklen vorgesehen, bei denen Übergangsrate, Gleichmäßigkeit und Reproduzierbarkeit entscheidend sind.
Anwendungen
- Zuverlässigkeit und Temperaturwechselzyklen von Halbleitern und ICs
- PCB-Baugruppen, Lötstellen und Verbindungen
- Automobilelektronik und EV-Leistungsmodule
- Luft- und Raumfahrt- sowie Kommunikationsausrüstung
- Batteriezellen und -module
- Werkstoffe und Beschichtungen
Konfiguration und Merkmale
- Temperaturbereich -70 °C bis +180 °C (200 °C optional).
- Lineare Temperaturanstiegsraten von 5 °C/min bis 30 °C/min; übliche Raten sind 5, 10, 15, 20 und 25 °C/min, mit bis zu 30 °C/min für ausgewählte Konfigurationen erhältlich.
- Beliebter Prüfbereich -40 °C bis +85 °C.
- Temperaturgleichmäßigkeit und Regelstabilität werden bei hohen Anstiegsraten aufrechterhalten.
- Die Luftzirkulation ist darauf ausgelegt, die Temperaturgleichmäßigkeit und die Rate, mit der das Prüfling die programmierte Temperatur erfährt, konstant zu halten.
- PID-Regelung mit programmierbarem Profil und RS-485-Kommunikation.
- Optionen umfassen ein Upgrade für hohe Anstiegsraten (≥ 30 °C/min).
Spezifikationen
| Parameter | Wert |
|---|---|
| Temperaturbereich | -70 °C bis +180 °C (200 °C optional) |
| Anstiegsrate (linear) | 5–30 °C/min |
| Übliche Raten | 5 / 10 / 15 / 20 / 25 °C/min |
| Typischer Bereich | -40 °C bis +85 °C |
| Regelung | PID, programmierbares Profil, RS-485 |
Modellbezeichnungen umfassen die EATH-Serie (zum Beispiel EATH800-40W5/W10/W15 und EATH1000-40W5/W10/W15); die Zahl gibt die konfigurierte Anstiegsrate an.
Normen
Kammern können für Testprogramme basierend auf IEC 60068-2-14, IEC 60068-3-5, JEDEC JESD22-A104, MIL-STD-810, AEC-Q100, ISO 16750 und RTCA DO-160 konfiguriert werden.
Um eine Anstiegsrate auf ein Testprofil abzustimmen, kontaktieren Sie uns mit dem erforderlichen Bereich, der Rate und dem Prüfling. Verwandt: Thermoschock-Testkammer, Temperatur-Feuchte-Schwingungs-Testkammer.