TestEQ EATH 시리즈 급속 온도 변화 챔버는 제품에 제어된 선형 온도 램프를 적용하여 열 피로를 가속화하고 온도 관련 고장 메커니즘을 규명합니다. 전이 속도, 균일도 및 반복성이 중요한 열 사이클링 시험에 적합합니다.
적용 분야
- 반도체 및 IC 신뢰성 및 열 사이클링
- PCB 어셈블리, 솔더 조인트 및 상호 연결부
- 자동차 전장 및 EV 전력 모듈
- 항공우주 및 통신 장비
- 배터리 셀 및 모듈
- 소재 및 코팅
구성 및 특징
- 온도 범위 -70 °C ~ +180 °C (200 °C 옵션).
- 선형 온도 승온·강온 속도 5 °C/min ~ 30 °C/min; 일반적인 속도는 5, 10, 15, 20, 25 °C/min이며, 선택 구성에 따라 최대 30 °C/min까지 가능합니다.
- 대표적인 시험 범위 -40 °C ~ +85 °C.
- 높은 램프 속도에서도 온도 균일도 및 제어 안정성 유지.
- 공기 순환은 온도 균일도와 시료가 프로그래밍된 온도에 도달하는 속도를 일정하게 유지하도록 설계되었습니다.
- 프로그래밍 가능한 프로파일과 RS-485 통신을 갖춘 PID 제어.
- 옵션으로 고속 램프 업그레이드(≥ 30 °C/min)가 있습니다.
사양
| 파라미터 | 값 |
|---|---|
| 온도 범위 | -70 °C ~ +180 °C (200 °C 옵션) |
| 램프 속도 (선형) | 5–30 °C/min |
| 일반 속도 | 5 / 10 / 15 / 20 / 25 °C/min |
| 대표 범위 | -40 °C ~ +85 °C |
| 제어 | PID, 프로그래밍 가능한 프로파일, RS-485 |
모델 명칭에는 EATH 시리즈(예: EATH800-40W5/W10/W15 및 EATH1000-40W5/W10/W15)가 포함되며, 숫자는 구성된 램프 속도를 나타냅니다.
표준
챔버는 IEC 60068-2-14, IEC 60068-3-5, JEDEC JESD22-A104, MIL-STD-810, AEC-Q100, ISO 16750 및 RTCA DO-160에 기반한 시험 프로그램에 맞게 구성할 수 있습니다.
시험 프로파일에 램프 속도를 맞추려면 필요한 범위, 속도 및 시료를 가지고 문의하십시오. 관련 제품: 열충격 시험 챔버, 온습도 진동 시험 챔버.